最近的调查发现，存储器测试的重点都放在了故障测试而忽略了可靠性测试。这里简单介绍BIST故障测试，增加了详细的可靠性测试并得到了实验数据，包括DRB（数据保持），耐久性（擦/写循环），HTOL（高温操作寿命），LTOL（低温操作寿命）。基于存储器可靠性测试的目的，采用了BIST测试的方法，通过一些列的可靠性测试实验，得出在电压为负时进行读“1”操作，电压越正失效的位数越少；在电压为正时进行读“0”操作，电压越小失效位数越少。随着电压增大，失效位数达到峰值。