为了保证单片机系统的可靠性，对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS一51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型，研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题，首次提出将March C一算法用于单片机内嵌存储器的用户级别试程序编写。该测试程序对SAF，TF，AF，CF的故障覆盖率可达到100％。并且能够检测部分NPSF故障，具有较高的故障覆盖率，适合于对用户级MCS一5l系列单片机存储器的测试。