存储测试技术是建立在超大规模集成电路和计算机技术基础之上的 现代测试技术。存储测试系统是为完成存储测试目的而设计的物理系统， 它工作在高温、高压、强冲击振动、高过载等恶劣环境和紧凑设计条件 下，自动完成被测信息的实时采集与存储记忆。 本系统主要由三路并行数据接口，RAM，CPLD 芯片，以及计算 机的外设组成。设计电路中CPLD 主要起时序控制作用，在由计算机 发出选择其中一路数据进行存储的处理请求后，经由CPLD 来控制选 通三路数字量中的一路数据，然后数据通过数据电缆被读取到存储器 中并进行存储。数据存储完毕，当计算机发出读取数据请求后，通过 CPLD 的控制作用，存储后的数字量按照EPP 模式从RAM 经由并行 接口读入到计算机中，通过软件实现显示和检测，本存储系统实现的是 一个动态的存储过程。