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基于增量式光栅编码器的高精度角位移测试方法
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类别： 基础知识 单片机/嵌入式
时间：2019-06-17
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阅读数：249
上传用户：xld0932
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资料介绍
针对增量式光栅编码器，给出一种四倍频细分结合A/D 转换计算反正切的方法，测量编码器转过的角位移。经验证，该方法能有效提高增量式光栅编码器的分辨率，得到较高的角位移测量精度。
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