航天器在太空中会受到单粒子效应( SEE) 带来的威胁，航天用电子器件在装备前必须进行抗单粒子效应能力的测试评估。本文研制了基于STM32 的CAN 控制器单粒子效应测试系统。硬件设计上对待测器件进行单独供电，以便准确监测单粒子闩锁( SEL) 效应; 软件上，实现CAN 控制器的动态测试，以便监测单粒子翻转效应( SEU) ，研究SEU 的数据统计方法，并利用Labview 设计上位机监测界面。试验结果表明，该测试系统可以实时全面地监测CAN 控制器的单粒子效应，并有效地保护板上芯片的安全。