采用高质量的直流测量是测试半导体芯片成功的基石。 通过实施这些基本最佳实践，了解到如何提高电源管理IC，RF功率放大器和其他IC的测量精度和产品质量。 本指南包括以下主题： 源测量单位操作理论 测量精度 准确性与速度权衡 脉冲效应 使用遥感来抵消铅电阻的影响 补偿偏移电压 最大限度地减少外部噪音 防止泄漏电流 了解校准的重要性下载本文档，赢取20元京东E卡，详情：http://www.eepw.com.cn/event/action/ni2019/semi.html……