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射频集成电路测试第十一讲
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类别: 测试测量
时间:2020-01-02
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射频集成电路测试第十一讲射频电路测试原理 第十一讲 逻辑分析仪(LA) leiyh@mail.tsinghua.edu.cn 参考文献 Agilent仪器说明书16702B_逻辑分析系统\Service Guide_16700-97015.pdf ..\Help Volume_16700AB_5988-9058EN ..\Logic Analysis System Modules_5988-9439EN ..\16700 Catalog_5968-9661E ..\16702B Front Panel_B3760-92003 ..\Probing Solutions_5968-4632E ..\Installation Guide_16700-97023 ..\LAN 16702B help Volume ..\Training Kit_16700_97020 2 射频电路测试原理 清华大学电子工程系 李国林 雷有华 2005春季学期 内容 11.1 逻辑分析仪的基本结构 11.2 逻辑分析仪的基本原理 11.3 定时分析和状态分析 11.4 模式发生器 11.5 16702B触发系统综述 11.6 进行基本测量 第五次实验 逻辑分析仪的使用 第十一讲 逻辑分析仪小结 3 射频电路测试原理 清华大学电子工程系 李国林 雷有华 2005春季学期 11.1 逻辑分析仪的基本结构 前面讨论了用于时域、频域、调制域的测量仪器,逻 辑分析仪……
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