与非门电路的测试 1. 实验目的：见课本106页1 2. 实验任务：见课本106页2 3. 实验原理：见课本106—109页 4. 实验电路图（采用的TTL与非门为HD74LS00P型） 1. 平均延迟时间测试电路示意图 实验电路图： (2) 电压传输特性的测试电路 具体实验电路： 五、实验数据整理： 1. 平均延迟时间测试 实验中信号发生器使用TTL输出，输出频率调整为5MHz。 测量的数据如下： | |4·tPHL(ns) |4·tPLH(ns) |tpd= (4·tPHL+ 4·tPLH)/8 (ns) | |测量值 |28 |27 |6.875 | 示波器显示波形大致如下图： 2、电压传输特性实验数据（单位：V） |VOH |VOL |VOFF |VON |VNH |VNL | |3.8 |0.22 |1.76 |1.98 |0.72 |1.36 | 示波器显示图形如下： 六、比较TTL与非门74LS00和CMOSCD4011的性能： 由于没有做 CMOS与非门的实验，故两个门的比较参考了教材得出： 1． CMOS与非门的开关特性比TTL要好，因为CMOS与非门的电压传输曲线比TTL的电压传输特 性曲线陡，反应快。 2．一般CMOS与非门的平均延迟时间要比TTL与非门的延迟时间要长的……