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DDR 失效分析方法探索
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类别: 消费电子
时间:2020-01-15
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资料介绍
DDR 失效分析方法探索DDR I/II 总线的失效分析方法探索 安捷伦科技有限公司 高级系统工程师:孙灯亮 Email:deng-liang_sun@agilent.com;Tel:13311666265 【关键字】DDR,时序,建立时间,保持时间,眼图,逻辑分析仪,示波器 【摘要】 DDR全名为Double Data Rate SDRAM ,简称为DDR。现在市场上的DDR已经发展到 了DDR II,速度可以支持到 667MT/s。FBD(Fully Buffered DIMM)也即将在市场上推出,速 度更快。DDR总线走线数量多,速度快,操作复杂,容易出现问题,给测试和分析带来了很高 的挑战。本文对DDR总线的失效情况进行了分析,总结一些实践经验,给出了测试分析的一些 思路和方法。 【Key Words】 DDR, Timing, Setup Time, Hold Time, Eye Diagram, Logic Analyzer, Oscilloscope 【Abstract】SDRAM (Synchronous Dynamic Random Access Memory) is a critical component of computers and other electrical equipments. About several years ago, a new type of SDRAM,called DDR(Double Data Rate) was introduced,which memory clocks is on both edges. DDR II is the second generation of memory technologies,and it has four different form factors for more mainstream pro……
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