由于我国的长期储存可靠性研究起步较晚，有关电子元器件可靠性研究方面的文献资料远远不能满足武器装备对其贮存可靠性信息的需求。为提高武器装备的贮存可靠性，对元器件长期储存期间的失效模式和失效机理进行深入的研究，无论在理论上，还是在生产上，都具有十分重要的意义。
