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基于MCU+CPLD结构的智能测控仪表的开发
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时间:2019-12-20
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资料介绍
摘 要:本文采用智能仪表构建一个完整的温度控制系统,包括仪表端控制程序的编制,仪表与PC机的通信,利用Ⅶ编写上位机应用程序。在应用程序中实现过程曲线的描绘与保存、控制参数的修改、超调量的测量、利用数据库保存过程历史数据等。[著者文摘]……
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