摘　要:为了探索SRAM型FPGA器件的总剂量效应测试方法及效应敏感参数，以XC2S100为实验样品，设计了两种配置电路，利用^60Coγ辐照装置进行了总剂量效应辐照实验。通过对实验结果的分析，给出了SRAM型FPGA器件配置存储器及块存储器的测试流程，并指出功耗电流是表征效应的最敏感参数。这些结果对建立SRAM型FPGA的考核方法及测试方法打下了坚实的基础。[著者文摘]……