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以零死区时间进行连续测量
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时间:2020.03.20
上传者:2iot
以零死区时间进行连续测量以零死区时间进行连续测量FCA3100系列操作指南操作指南以零死区时间进行连续测量泰克FCA3100系列定时器/计数器/分析仪引入了以零死区时间进行连续测量的概念。本操作指南将
Tektronix
零死区时间
使用TDS2000C系列示波器调试设计
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时间:2020.03.20
上传者:238112554_qq
使用TDS2000C系列示波器调试设计使用TDS2000C系列示波器调试设计TDS2000C系列示波器www.tektronix.com.cn/tds20001TDS2000C系列示波器www.tek
Tektronix
tds2000c
轻松选择示波器
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时间:2020.03.20
上传者:wsu_w_hotmail.com
轻松选择示波器轻松选择示波器MSO4000/DPO4000系列DPO3000系列MSO/DPO2000系列TDS3000C系列TPS2000系列TDS1000B/2000B系列通道数量模拟2*4,42
Tektronix
示波器
My Scope功能让您实现示波器个性化
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时间:2020.03.20
上传者:二不过三
MyScope功能让您实现示波器个性化TDS5000BDPO系列主要特点MyScopeTM定制控制窗口使TDS5000BDPO系列成为当前市场上使用最简便的数字示波器。直观的鼠标右键点击菜单和鼠标滚轮
Tektronix
my
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力科信号完整性网络分析仪产品手册
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时间:2020.03.20
上传者:238112554_qq
力科信号完整性网络分析仪产品手册SPARQDynamicRangeTECHNICALBRIEFPeterJ.PupalaikisVP&PrincipalTechnologistSummaryThisp
力科
使用网络分析仪进行时域分析
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时间:2020.03.20
上传者:quw431979_163.com
这份资料主要讲述讨论如何使用矢量网络分析仪(VNA)进行时域测试分析,希望让具有频域测试知识背景的工程师们能深入了解怎样从频域测试数据(S参数)得到时域测试结果,以及怎样将时域测试结果应用到对射频(R
agilent
力科逻辑分析仪手册
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时间:2020.03.20
上传者:givh79_163.com
力科逻辑分析仪手册LogicStudioGettingStartedManualDecember,2010LeCroyCorporation700ChestnutRidgeRoadChestnutRi
力科
逻辑分析仪
软件定义无线电测量解决方案
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时间:2020.03.20
上传者:rdg1993
本应用指南介绍SDR体系结构和分析工具的类型,测量软件无线电的数字、模拟和射频部分时可使用这些分析工具。本指南还说明了在进行SDR部件和系统设计及故障诊断时,如何将矢量信号分析工具应用于多域场合。还讨
agilent
使用E5072A ENA系列网络分析仪进行大功率测量
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时间:2020.03.20
上传者:微风DS
在用矢量网络分析仪对无线通信和卫星系统中的射频天线、功率放大器和其它元器件进行测量时,通常需要用到大功率的测试信号。使用大功率信号测试这些射频元器件非常困难,因为测试所需的信号的功率可能会超出一般标准
agilent
升级逻辑分析仪的十大理由
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时间:2020.03.20
上传者:978461154_qq
查找今天复杂设计的故障包括很快找到所有问题,确定问题的产生原因和实现有效地工作。您的成功始于拥有正确的查错工具,逻辑分析仪也许是最有效的工具之一。通常,升级到新逻辑分析仪的主要理由是您现有逻辑分析仪已
agilent
逻辑分析仪
安捷伦PNA微波网络分析仪(利用宽带及窄带检测进行脉冲s参数测试)
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时间:2020.03.20
上传者:16245458_qq.com
矢量网络分析仪是精确测量射频及微波元器件特性的首选工具,它能够精确地对器件的幅度和相位的频率响应进行测试。对多数器件而言,普通的S参数测试采用连续波信号(CW)做激励/响应特性测试就可以满足要求。然而
agilent
测试系统开发指南-操作维护
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时间:2020.03.20
上传者:238112554_qq
本应用指南是测试系统开发指南系列中的第八篇,该系列应用指南帮助您很快设计出能获得可靠测量结果,吞吐率符合应用要求,成本也在您预算之内的测试系统。这篇应用指南讲述系统使用中的有关问题。内容包括世界范围的
agilent
测试系统开发
测试系统开发指南-最大化系统吞吐率和优化调度
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时间:2020.03.20
上传者:978461154_qq
本应用指南是测试系统开发指南系列中的第七篇,该系列应用指南帮助您很快设计出能获得可靠测量结果,吞吐率符合应用要求,成本也在您预算之内的测试系统。这篇应用指南讲述影响吞吐率的硬件和软件设计决定,包括仪器
agilent
测试系统开发
测试系统开发指南-选择测试系统硬件体系结构和仪器
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时间:2020.03.20
上传者:givh79_163.com
本应用指南是测试系统开发指南系列中的第五篇,该系列应用指南帮助您很快设计出能获得可靠测量结果,吞吐率符合应用要求,成本也在您预算之内的测试系统。这篇应用指南讲述在您开始建造测试系统前所要作出的硬件体系
agilent
测试系统开发
测试系统开发指南-选择测试系统软件体系结构
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时间:2020.03.20
上传者:quw431979_163.com
本应用指南是测试系统开发指南系列中的第四篇,该系列应用指南帮助您很快设计出能获得可靠测量结果,吞吐率符合应用要求,成本也在您预算之内的测试系统。这里提供的信息将根据您心目中的应用和您所具备的经验为您提
agilent
测试系统开发
测试系统开发指南-设计入门
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时间:2020.03.20
上传者:rdg1993
本应用指南是测试系统开发指南系列中的第一篇,该系列应用指南帮助您设计出能获得可靠测量结果,吞吐率符合应用要求,成本也在您预算之内的测试系统。系列中的第一篇测试系统设计入门包括测试系统的概念和设计规划,
agilent
测试系统开发
看到别人看不到的世界(DPO背后的故事)
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时间:2020.03.20
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看到别人看不到的世界(DPO背后的故事)通过DPO加快设计和检修速度泰克数字荧光示波器向您展示了别人看不到的世界,它提供了所需的速度、精度和洞察力,可以迅速检验、检定和调试最复杂的设计。DPO,向您展
Tektronix
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