原创 一代SiPM测试板基本要素测量结果
一代SiPM测试板基本要素测量结果
概述
第一代SiPM测试板由于物理上瑕疵，无法完成深度测试，但是一些基本要素还是得到了测量，本文记录这些不多的在这一代测试板获得的要素测量结果。
测量结果记录
- 整形脉冲信号脉宽测量，如图1所示，测量得到的脉冲宽度大概在598ns左右。脉冲整形结果还不是太理想，另外整形后脉冲宽度还是太宽。依据整机系统的要求，需要将整形脉冲的脉宽尽量压缩，具体原因是窄脉冲占用时域时宽窄，更不易发生脉冲堆叠（pile-up）。
图1：整形脉冲脉宽测量
- 整形脉冲的上升时间测量，如图2所示，脉冲上升沿从0%爬升到100%大致需要68.8ns左右。
图2：整形脉冲上升时间测量
- 时间分支信号测量，测量时间分支脉冲脉宽，如图3所示，测量得到脉宽在530~560ns左右。
图3：时间分支脉冲信号脉宽测量
- 时间分支脉冲上升时间测量，首先测量脉冲上升沿从0%爬升到100%的时间，如图4所示，大致在12~13.2ns左右
图4：时间分支脉冲上升时间，从0%到100%
- 时间分支脉冲上升时间测量，首先测量脉冲上升沿从20%爬升到80%的时间，如图5所示，大致在4~4.4ns左右
图5：时间分支脉冲上升时间，从20%爬升到80%
作者： coyoo， 来源：面包板社区
链接： https://mbb.eet-china.com/blog/uid-me-1010859.html
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