ESD(ElectroStatic Discharge)即“静电放电”,是研究静电的产生与衰减、静电放电模型、静电放电效应(如电流热效应(电火花)和电磁效应(电磁干扰EMI及电磁兼容性EMC))的学科。
物质之间相互作用(如摩擦、接触、感应、传导)而引起的物质获得或失去电子,失去电平衡而带电荷,电荷的积累就使得物质表面带上静电,当电荷积累到足够的强度时,电荷将可能泄放,造成其周围的物质被击穿,从而得到新的电平衡。这种静电电荷的快速中和称为静电放电,由于其速率很快,而且在放电时的电阻一般很小,往往会造成瞬时大电流,可能超过20安培。这种放电如果经过集成电路,这么大的电流往往会对电路造成损害。
ESD有多种模型来描述器件如何受到损害:人体模式(HBM),器件带电模式(CDM),场感应模式等等。附件中为ESD放电模型图。
ESD在电子设备中时有发生,在静电放电过程中,将产生潜在的破坏电压、电流和电磁场。ESD产生强大的尖峰脉冲电流,包含丰富的高频成分,其最高频率甚至可能超过1GHz。这些高频脉冲使得PCB板上的走线变成非常有效的接收天线,使得感应出高电平的噪声。
ESD对电路的干扰一是静电放电电流直接通过电路造成损害,另一是产生的电磁场通过电容耦合、电感耦合或空间辐射耦合等对电路造成干扰。
ESD电流产生的场可直接穿透设备,或通过孔洞、缝隙、输入输出电缆等耦合到敏感电路。ESD电流在系统中流动时,激发路径中所经过的天线,导致产生波长从几厘米到数百米的辐射波,这些辐射能量产生的电磁噪声将损坏电子设备或骚扰它们的运行。
若ESD感应的电压或电流超过电路的电平信号,在高阻抗电路中,电流很小,此时电容耦合占主导,ESD感应电压将影响电路电平信号;在低阻电路中,电感耦合占主导,ESD电流将导致器件失效。
ESD的两种主要破坏机制是:
① 由于ESD电流产生的热量导致器件的热失效;
② 由于ESD高的电压导致绝缘击穿,造成激发更大的电流,造成进一步的热失效。
ESD失效可以分为永久失效及暂时失效。如果在静电接触传导放电时产生的电压过高电流过大,有可能会造成器件永久性损坏,如冬天用手接触电路,造成设备损坏而不能继续使用。而在有些情况下,一些较小的电路噪声,导致偶尔出现异常结果,但过后设备并未损坏,这种情况可称为ESD暂时失效。附件图为因ESD损坏的电路板及芯片。
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