本篇文章由IBM邵鹏先生翻译自Agilent的一篇介绍抖动的经典应用文章,放在这里供大家参考。感谢邵鹏先生的工作!https://static.assets-stash.eet-china.com/album/old-resources/2009/8/11/fbb93391-7cd5-4bef-b35b-f11f1ac654b9.rarhttps://static.assets-stash.eet-china.com/album/old-resources/2009/8/11/662c70f7-e51a-42d7-8340-99eb7af187b0.rar
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以下内容摘自邵鹏先生前言,写得非常好:
工作于高速设计领域十年有余,工作的时间越长,觉得要学习的东西就越多。这十年间,从PCI 到PCIExpress2.0,USB 到USB3.0,SDRAM到DDR3,从几十MHz 的并行总线到6.25GHz,甚至12GHz 的高速差分连接,新的总线、接口形式层出不穷。尤其在高速系统设计中需要考虑的因素越来越多,相应的测试仪器和测试手段也不断推陈出新,测试的项目和仪器功能也越来越单一化和专项化。这就需要我们在高速系统设
计中具有扎实的理论基础,不论是在设计还是测试过程中始终要保持清醒的头脑,对系统中出现的各种现象和相关因素有比较清晰的分析脉络。抖动(Jitter)对高速系统的性能影响越来越大。在众多的介绍抖动测量的技术文章中,译者认为这篇文章结构清晰流畅,内容详实完整,对于设计工作有比较大的指导价值,推荐给各位同行。本文原文为英文版本,译者初次阅读时感觉比较吃力,所以于工作闲暇之余,将之翻译成中文,抛砖给各位同行,希望能节省一些您的时间。不过,如果读者有能力,还是推荐读原文,以免在我的翻译(包括非正规的术语,笔误等)误导您。因为这毕竟不是正规出版物,仅仅是出于个人爱好,用于技术交流之用。
本文从抖动的外在表现形式出发,结合仪器的使用,着重于对抖动的来源进行分析和测量,并没有过多介绍抖动内在物理参数的数学理论分析,对于这部分内容,可以参照本文的姊妹篇《Measuring Jitter in DigitalSystems-AN1448-1》。由于时间的关系,先翻译姊妹篇的后一篇,也是因为这篇文章具有更强的实际指导意义,如果大家反映比较好,随后再翻译第一篇。
用户1534280 2009-8-19 10:00
用户1482791 2009-8-14 14:09