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《高速数字接口原理与测试指南》目录       清华大学出版社     

     ISBN：9787302376118
     定价：79元
     印次：1-1
     装帧：平装
     印刷日期：2014-10-24

上部  高速数字信号测量原理
  第1章  无处不在的数字接口
  第2章  数字信号基础
    2.1 什么是数字信号(Digital Signal)
    2.2 数字信号的上升时间(Rising Time)
    2.3 数字信号的带宽(Bandwidth)
    2.4 数字信号的建立/保持时间(Setup/Hold Time)
    2.5 并行总线与串行总线(Parallel and Serial Bus)
    2.6 单端信号与差分信号(Single-ended and Differential Signals)
    2.7 数字信号的时钟分配(Clock Distribution)
    2.8 串行总线的8b/10b编码(8b/10b Encoding)
    2.9 伪随机码型(PRBS)
    2.10 传输线对数字信号的影响(Transmission Line Effects)
    2.11 数字信号的预加重(Pre-emphasis)
    2.12 数字信号的均衡(Equalization)
    2.13 数字信号的抖动(Jitter)
    2.14 扩频时钟(SSC)
  第3章  数字测试基础
    3.1 数字信号的波形分析(Waveform Analysis)
    3.2 数字信号的眼图分析(Eye Diagram Analysis)
    3.3 眼图的参数测量(Eye Diagram Measurement)
    3.4 眼图的模板测试(Mask Test)
    3.5 数字信号抖动的成因(Root Cause of Jitter)
    3.6 数字信号的抖动分解(Jitter Seperation)
    3.7 串行数据的时钟恢复(Clock Recovery)
    3.8 示波器的抖动测量能力(Jitter Measurement Floor of Scope)
    3.9 相位噪声测量(Phase Noise Measurement)
    3.10 传输线的特征阻抗(Characteristic Impedance)
    3.11 特征阻抗的TDR测试(Time Domain Reflectometer)
    3.12 传输线的建模分析(Transmission Line Modelling)
  第4章  实时示波器原理
    4.1 模拟示波器(Analog Oscilloscope)
    4.2 数字存储示波器(Digital Storage Oscilloscope)
    4.3 示波器的带宽(Bandwidth)
    4.4 示波器的频响方式(Frequency Response)
    4.5 示波器带宽对测量的影响(Bandwidth Impact)
    4.6 示波器的带宽增强技术(Bandwidth Enhancement Technology)
    4.7 示波器的频带交织技术(Bandwidth Interleaving Technology)
    4.8 示波器的采样技术(Sampling Technology)
    4.9 示波器的分辨率(Vertical Resolution)
    4.10 示波器的直流电压测量精度(DC Voltage Accuracy)
    4.11 示波器的时间测量精度(Delta-Time Accuracy)
    4.12 示波器的等效位数(ENOB)
    4.13 示波器的高分辨率模式(High Resolution)
    4.14 示波器的内存深度(Memory Depth)
    4.15 示波器的死区时间(Dead Time)
    4.16 示波器的显示模式(Display Mode)
    4.17 示波器的触发(Trigger)
    4.18 示波器的触发条件(Trigger Conditions)
    4.19 示波器的触发模式(Trigger Mode)
    4.20 示波器的测量速度(Measurement update rate)
    附录 Agilent 公司90000X系列高端示波器原理
  第5章  示波器探头原理
    5.1 高阻无源探头(High Impedance Passive Probe)
    5.2 无源探头的常用附件(Passive Probe Accessories)
    5.3 低阻无源探头(Low Impedance Passive Probe)
    5.4 有源探头(Active Probe)
    5.5 差分探头(Differential Probe)
    5.6 电流探头(Current Probe)
    5.7 高灵敏度探头(High-sensitivity Probe)
    5.8 探头连接前端对测量的影响(Probe Head)
    5.9 探头衰减比对测量的影响(Probe Attenuation Ratio)
    5.10 探头的校准方法(Probe Calibration)
  第6章  其他常用数字测量仪器
    6.1 采样示波器(Sampling Oscilloscope)
    6.2 矢量网络分析仪与TDR(VNA and TDR)
    6.3 逻辑分析仪(Logic Analyzer)
    6.4 协议分析仪(Protocol Analyzer)
    6.5 误码分析仪(Bit Error Ratio Tester)
    附录1 Agilent公司U4154A逻辑分析仪简介
    附录2 示波器协议解码功能和协议分析仪的区别
  第7章  常用测量技巧
    7.1 电源纹波噪声测试方法
    7.2 时间间隔测量
    7.3 如何用示波器进行ps级时间精度的测量
    7.4 怎样测量PLL电路的锁定时间
    7.5 T型头和功分器的区别
    7.6 如何克服测试电缆对高频测量的影响
  第8章  用多台仪器搭建自动测试系统
    8.1 自动化测试系统
    8.2 LXI测试系统的硬件平台
    8.3 LXI测试系统的软件架构
    8.4 LXI测试系统的优点
    8.5 LXI测试系统的兼容性问题
    8.6 LXI测试系统的时钟同步
    8.7 LXI测试系统的网络安全性
下部  高速数字接口及测试方法
  第9章  PCI-E简介及信号和协议测试方法
    9.1 PCI-E总线简介
    9.2 PCI-E 协会简介
    9.3 PCI-E信号质量测试
    9.4 PCI-E协议调试和测试
    9.5 PCI-E测试总结和常见问题
  第10章  PCI-E 3.0简介及信号和协议测试方法
    10.1 PCI-E 3.0数据速率的变化
    10.2 PCI-E 3.0发送端的变化
    10.3 PCI-E 3.0接收端的变化
    10.4 PCI-E 3.0信号质量测试
    10.5 PCI-E 3.0接收端容限测试
    10.6 PCI-E 3.0协议的测试
    10.7 PCI-E 3.0测试总结及常见问题
  第11章  SATA简介及信号和协议测试方法
    11.1 SATA总线简介
    11.2 SATA协会简介
    11.3 SATA发送信号质量测试
    11.4 SATA接收容限测试
    11.5 SATA协议层测试和调试
    11.6 SATA测试总结及常见问题
  第12章  Ethernet简介及信号测试方法
    12.1 以太网技术简介
    12.2 10Base-T以太网测试项目
    12.3 100Base-Tx以太网测试项目
    12.4 1000Base-T以太网测试项目
    12.5 10M/100M/1000M以太网的测试
    12.6 10GBase-T的测试项目及测试
    12.7 XAUI和10GBase-CX4测试方法
    12.8 SFP+/10GBase-KR接口及测试方法
    12.9 100G以太网标准及测试方法
    12.10 100G及更高速率相干光通信测试方法
    12.11 以太网测试总结及常见问题
  第13章  MIPI D-PHY简介及信号和协议测试方法
    13.1 MIPI 简介
    13.2 MIPI D-PHY简介
    13.3 MIPI D-PHY信号质量测试
    13.4 MIPI D-PHY的接收端容限测试
    13.5 MIPI CSI/DSI的协议测试
    13.6 MIPI D-PHY测试总结及常见问题
  第14章  MIPI M-PHY简介及信号和协议测试方法
    14.1 MIPI M-PHY简介
    14.2 MIPI M-PHY的信号质量测试
    14.3 MIPI M-PHY的协议解码
    14.4 DigRF简介
    14.5 DigRF物理层测试
    14.6 DigRF协议层测试
    14.7 MIPI M-PHY测试总结及常见问题
  第15章  存储器简介及信号和协议测试
    15.1 存储器简介
    15.2 DDR简介
    15.3 DDR信号的读写分离
    15.4 DDR的信号探测技术
    15.5 DDR的信号测试
    15.6 DDR的协议测试
    15.7 eMMC简介及测试
    15.8 SD卡/UHS简介及测试
    15.9 存储器测试总结及常见问题
  第16章  USB 2.0简介及信号和协议测试
    16.1 USB 2.0简介
    16.2 USB 2.0的信号质量测试方法
    16.3 USB 2.0信号质量测试中的测试模式设置
    16.4 USB 2.0协议层调试方法
    16.5 USB测试总结及常见问题
  第17章  USB 3.0简介及信号和协议测试
    17.1 USB 3.0简介
    17.2 USB 3.0的发送端信号质量测试
    17.3 USB 3.0信号质量测试中的测试码型和LFPS信号
    17.4 USB 3.0的接收容限测试
    17.5 USB 3.0的电缆、连接器测试
    17.6 USB 3.0的协议测试
    17.7 USB 3.0测试总结及常见问题
  第18章  HDMI 简介及信号和协议测试
    18.1 数字显示接口
    18.2 HDMI 简介
    18.3 HDMI 发送信号质量测试
    18.4 HDMI 电缆和连接器的测试
    18.5 HDMI 接收容限测试
    18.6 HDMI 的协议层测试
    18.7 HDMI 1.4  HEAC的测试
    18.8 HDMI 测试总结及常见问题
  第19章  MHL简介及信号和协议测试
    19.1 MHL简介
    19.2 MHL发送信号质量测试
    19.3 MHL接收容限测试
    19.4 MHL的协议测试
    19.5 MHL测试总结及常见问题
  第20章  DisplayPort简介及信号测试
    20.1 DisplayPort简介
    20.2 DisplayPort发送信号质量测试
    20.3 DisplayPort接收容限测试
    20.4 DisplayPort电缆和连接器测试
    20.5 MYDP简介及测试
    20.6 DisplayPort测试总结及常见问题
  第21章  LVDS传输系统简介及测试
    21.1 LVDS简介
    21.2 LVDS的数字逻辑测试
    21.3 LVDS信号质量测试
    21.4 LVDS 互连电缆和PCB的阻抗测试
    21.5 LVDS 系统误码率测试
    21.6 LVDS测试总结
  第22章  MIL-STD-1553B简介及测试
    22.1 1553总线简介
    22.2 1553总线的触发和解码
    22.3 1553总线的测试
    22.4 1553总线的未来