用户1589850的文章-第19页-面包板社区

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用户1589850 2011-12-14 18:45: 惰性气体或高真空中的小型晶体高值电阻温度稳定性2; 在许多晶体中，电偶极子以首选的红色方向排列，形成一个带电表面。在热膨胀期间，表面电荷移动，从而带来热释电效应。当光闸开启（使温度增加）或关闭 ...; 809 16 0 16

电偶极子

用户1589850 2011-12-14 18:43: 利用专门设计的测量室和分子束沉积(MBD)系统测量高电阻的方法与技术; 接触晶体各向异性的测量通常需要在多个方向对晶体进行接触，与晶体轴平行和垂直。因此，研究人员要求材料在测量时必须能够实现可靠的电子接触，而 ...; 1346 18 0 18

分子束沉积(mbd)

用户1589850 2011-12-14 18:42: 利用6517A对惰性气体或高真空中的小型晶体高值电阻测量的典型误差来源; 屏蔽与防护为了降低静电干扰，利用具有地电位的导体包围样本和线缆（屏蔽）。为了防止漏电流影响测量，利用具有同样电势的导体对至静电计输 ...; 1255 16 0 16

51 nec

用户1589850 2011-12-14 18:41: 小型晶体高值电阻进行测量的样本安装; 在测量尺寸较小样本时，样本安装基底可能会成为测量误差的主要来源，这是其体积和表面电阻率造成的。通过（可能被污染的）基底表面阻止漏电流的方法是， ...; 988 18 0 18

漏电流

用户1589850 2011-12-14 18:40: 惰性气体或高真空中的小型晶体高值电阻温度稳定性1; 测量系统的温度变化将带来热膨胀，从而改变电容，在电流中引入额外噪声。如果在环境温度（不加热也不冷却）下进行测量，在测量期间系统温度一般是足够稳 ...; 902 15 0 15

电容屏蔽层

用户1589850 2011-12-14 18:33: 利用6517A型静电计/高阻表对惰性气体或高真空中的小型晶体高值电阻进行测量的总结; 利用吉时利 6517A 型静电计，可以在高达1000V的高压下实现低噪声（未滤波1fA p-p ）电流测量。利用精心设计的测量室和质量优良的绝缘体，可以完全避 ...; 1180 28 0 28

绝缘体 6517a型静电计低噪声

用户1589850 2011-12-14 18:31: 4200-PIV脉冲IV包简介; 什么是脉冲 IV 脉冲 IV 为用户提供了使用脉冲而非直流信号在设备上运行参数曲线扫描的能力。带相应脉冲测量的脉冲源的使用，通常有两种方 ...; 1194 16 0 16

脉冲 4200-piv

用户1589850 2011-12-14 18:30: 4200脉冲IV测量CMOS晶体管的目标应用和测试项目; 4200-PIV 包涵盖解决最常见参数晶体管测试的测试项目：Vds–id和Vgs-id。这两个测试提供直流和脉冲两个模式，允许两种测试方法之间的相关性，并已配置用于 ...; 1884 10 0 10

cmos晶体管 4200脉冲

用户1589850 2011-12-14 18:29: 4200脉冲IV测量CMOS晶体管测试开始; 在测试开始时，被测设备（DUT）的漏极由SMU2产生偏置，并等待门极脉冲开通晶体管产生漏极电流Id。 A：门极电压脉冲：这个波形是 4200-PG2 通道1 ...; 1198 11 0 11

4200脉冲 iv测量

用户1589850 2011-12-14 16:38: 6517A型静电计/高阻表的光电效应; 在比某种材料波长较短的波长范围里，光能足以激发电子从电极材料发射。这将导致电极之间气体的离子化，提供导电路径。如果在高真空中进行测量，这些电子将产 ...; 2158 15 0 15

额外电流光电效应累积电荷

用户1589850 2011-12-14 16:38: 利用6517A型静电计/高阻表对惰性气体或高真空中的小型晶体高值电阻进行测试的系统安全性; 在使用尺寸较小的样本进行测量时，电极之间有可能发生电气短路或击穿。为了防止出现过高电流，应当在电路中设置保护电阻，将电流限制在1mA以下。许多电子测试 ...; 2193 14 0 14

危险电平测试夹具

用户1589850 2011-12-14 16:38: Keithley 4200脉冲IV测量CMOS晶体管系统配置; 4200- PIV 在 4200- SCS 主机更高编号的插槽中增加了2个卡，如图2所示。此外，脉冲IV的互连也显示在图2和3中。图2. PIV的 ...; 2621 11 0 11

keithley 4200 脉冲

用户1589850 2011-12-14 16:37: 利用6517A型静电计/高阻表对惰性气体或高真空中的小型晶体高值电阻进行测量的总结; 利用吉时利 6517A 型静电计，可以在高达1000V的高压下实现低噪声（未滤波1fA p-p ）电流测量。利用精心设计的测量室和质量优良的绝缘体，可以完全避 ...; 2322 23 0 23

薄膜 6517a型静电计绝缘体

用户1589850 2011-12-14 16:34: PulseIV-Complete 项目详解; PulseIV-Complete项目包括4200-PIV包的所有脉冲源和脉冲测量测试。此项目用于客户设备的测试和4200-PIV包的演示。 PulseIV-Complete项目对于脉冲校准和“4 ...; 1433 13 0 13

pulseiv-complete

用户1589850 2011-12-14 16:27: 4200脉冲IV测量CMOS晶体管初始化测试; AutocalScope –运行 4200- SCP2 自校准和偏移测量的程序。在每一个 PulseIV cal 之前，应该运行此程序，并定期捕获SCP2的任何漂移。它要求从示波器中 ...; 1035 12 0 12

吉时利 4200

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