ADC的一个重要趋势是转向更高的分辨率。这一趋势影响着一系列的应用,包括工厂自动化、温度检测,以及数据采集。对更高分辨率 的需求使设计者们从传统的12位SAR(逐次逼近寄存器)ADC,转向分辨率达24位的Δ-Σ ADC。所有ADC都有某种程度的噪声,包括输入相关噪声以及量化噪声,前者是ADC本身固有的噪声,后者则是在ADC转换时出现的噪声。噪声、ENOB(有效位数)、有效分辨率、无噪声分辨率等指标基本上定义了一款ADC的精度。 因此,了解有关噪声的性能指标要比从SAR转向Δ-Σ ADC更加困难。鉴于当前对更高分辨率的需求,设计者必须更好地了解ADC噪声、ENOB、有效分辨率,以及信噪比。