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新型的嵌入式存储器测试算法
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类别： 基础知识 单片机/嵌入式
时间：2019-06-18
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阅读数：280
上传用户：xld0932
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资料介绍
针对目前嵌入式存储器测试算法的测试效率与故障覆盖率难以兼得的现状，提出了兼顾二者的测试算法。实验结采表明该算法最适合对存储器进行大批量的测试。在测试效率上的优势很明显，故障覆盖率也能达到应用标准。
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