针对NAND Flash存储器由于其工艺结构的局限性而导致数据在存储过程中小概率的位翻转问题，基于Microsemi公司的Smartfusion2系列的FPGA设计并实现了基于汉明码的ECC校验方案。结合NAND Flash的结构特点和数据存储方式，将ECC校验方案分为ECC编码模块和错误检测与纠正模块。根据写入与读出NAND Flash的数据两次生成ECC，两组ECC经过一定的运算，可判断、定位并纠正错误。该校验算法通过将每512字节原始数据生成3字节的冗余数据，可达到1 bit/4 kbit的纠错能力，保证了NAND Flash数据存储过程中的可靠性。