摘要：在对石英晶片的电性能参数进行测试时，需要对被测晶片施加一个高频扫描激励信号。通常该激励信号可以通过一个直接数字频率合成器(DDS)来实现。若采用固定信号放大器放大输出，则其低频信号幅度将远远大于高频信号幅度，而对被测晶片的激励信号应保持在600mV左右，显然无法通过固定增益放大器达到这一性能指标。……
