在本入门手册中，我们详细考察了嵌入式系统的各个要素，描述了其实现中出现的部分挑战，而新一代测试测量工具将能够解决这些挑战。 入门手册 嵌入式系统：测试和测量挑战 入门手册 嵌入式系统： 测试和测量挑战 www.tektronix.com/embedded 1 嵌入式系统：测试和测量挑战 入门手册 目录 嵌入式系统概述3-6 低速串行总线26-30 行业推动因素3 测量挑战29 市场趋势和推动因素4 触发与搜索30 工程设计需求和响应4 小结30 嵌入式设计的各种单元5 高速串行总线31-36 嵌入式设计的关键测试挑战6 高速串行标准32 微处理器和微型控制器7-11 测量挑战33 调试嵌入式处理器7 小结36 高级语言源代码支持8 电源37-43 符号支持9 性能分析支持9 开关式电源基础知识37 最坏情况执行时间支持10 检定SMPS(开关式电源)性能38 电气特点38 现场可编程门阵列(FPGAs)12-17 ……