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使用单元感知诊断揭示晶体管级别的良率限制因素
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类别： 基础知识 电源/功率 模拟/数字
时间：2019-12-11
大小：2.48MB
阅读数：311
上传用户：微风DS
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单元感知诊断可通过执行晶体管级别的诊断来识别标准单元内的缺陷，是一种全新而有效的方法。它运用了衍生自模拟仿真的故障模型，同时使用与传统诊断相同的失效数据收集和诊断流程。
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ic 半导体 电源完整性
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