本文研究了80c31单片机电路在Co 辐照环境中的响应特性及参数变化规律，通过对辐照环境中的响应特性及参数变化规律，通过对辐照后其电离辐照敏感参数在室温和100℃高温条件下随时间变化关系的分析，讨论了电路总剂量辐射损伤的机理。
