芯片漏电是失效分析案例中最常见的，找到漏电位置是查明失效 原因的前提，液晶漏电定位、EMMI(CCDInGaAs)、激光诱导等手段 是工程人员经常采用的手段。多年来，在中国半导体产业有个误区， 认为激光诱导手段就是 OBIRCH。
