一. 主要测试技术指标及对应的测试要求:
1. 频率偏差测试及占用带宽(Frequency deviation and occupied frequency bandwidth)
Rule part 4.1, section 3
测试信道:正常工作信道
测试电压:常压
测试设备:首选频率计,如没有可选用频谱仪或接收机(以下是频谱仪的设置)
EUT设置:连续发射方式
频谱仪设置:
中心频率:测试频率(先找到最大频率点,再使用频谱分析仪的peak Center 功能)
扫描带宽:3MHz
RBW/VBW:30KHz
扫描时间:自动
扫描点数:401
扫描方式:连续扫描(Continuous)
检波方式:峰值检波(Positive peak)
显示方式:最大保持(Max hold)
EUT布置(测试环境):在电波暗室进行
如图所示:
a) 备测物放在电波暗室距离参考地面1.5m高度的旋转桌上与接收天线同样高度;
b) 接收天线与被测物之间的距离为3m。
测试步骤:
(1) 用peak功能读出当前频谱仪的上频率点的值“f”;
(2) 读出测试曲线99%的能量占用带宽。
限值:
项目 |
Limits |
频率偏差 |
312 MHz<f <315.05 MHz 或 315.05 MHz<f < 315.25 MHz |
占用带宽 |
<1 MHz |
2. 杂散骚扰测试(Spurious emission or unwanted emission intensity)
测试信道:正常工作信道
测试电压:常压
EUT设置:连续发射方式。
测试设备及设置
表一:带外杂散(整段扫描)的频谱仪设置:
扫频范围 |
30 MHz 到 311 MHz 及 316.25 MHz到 3 GHz |
RBW/ VBW |
f < 1 GHz: 100kHz f > 1 GHz: 1 MHz |
扫描时间 |
自动 |
扫描点数 |
401 |
扫描方式 |
单次扫描 |
检波方式 |
峰值检波 |
表二:带外杂散的频谱仪设置:
中心频率 |
载波或杂散信号频率 |
扫描带宽 |
0 Hz |
RBW/VBW |
100kHz |
扫描时间 |
自动 |
扫描点数 |
401 |
扫描方式 |
单次扫描 |
检波方式 |
峰值检波 |
表三:带内杂散(整段扫描)的频谱仪设置:
扫频范围 |
311 MHz – 311.9985 MHz, 315.2515 MHz – 316.25 MHz |
RBW/VBW |
3 kHz |
扫描时间 |
自动 |
扫描点数 |
401 |
扫描方式 |
单次扫描 |
检波方式 |
峰值检波 |
表四:带内杂散的频谱仪设置:
中心频率 |
杂散骚扰频率 (注1) |
扫描带宽 |
97 kHz |
RBW/VBW |
3 kHz |
扫描时间 |
自动 |
扫描点数 |
401 |
扫描方式 |
单次扫描 |
检波方式 |
峰值检波 |
注1:若按表三扫描到的杂散信号的频率大于311.95 MHz且小于315.3 MHz则视为311.95MHz或315.3 MHz。
测试步骤:
1. 按表一设置频谱仪,扫描带外整段频率范围内的杂散信号,看扫描到的杂散信号是否超过限值;
2. 若扫描到的杂散信号大于标准限值,按照表二设置频谱仪,扫描杂散信号。为精确扫出杂散信号频率,依次设置扫描带宽为100MHz,10MHz和1MHz,并按表二设置频谱仪,扫描杂散信号,确定杂散信号是否超标;
3. 按照表三设置号频谱仪的各个参数,扫描带内争端频率的杂散骚扰信号;
4. 若扫描到带内杂散信号超出限值,则按表四设置好频谱仪对超标的点进行扫描,最终判断杂散信号是否超标。
限值:
f < 1 GHz: < 250nW/100kHz
f > 1 GHz: < 1μW/1 MHz
3. 天线功率误差测试(Antenna Power Deviation)
测试信道:正常工作信道
测试电压:常压
测试设备:首选功率计,如没有可选用频谱仪或接收机(以下是频谱仪的设置)
EUT设置:连续发射方式
频谱仪设置:
中心频率:测试频率
扫描带宽:5MHz
RBW:3MHz
VBW:大于三倍的RBW
扫描时间:等于转台转一圈的时间
扫描点数:401
扫描方式:连续扫描(Continuous)
检波方式:峰值检波(Positive peak)
显示方式:最大保持(Max hold)
EUT布置(测试环境):用等效替代法在电波暗室进行
如图所示:
测试步骤:
a) 设置好频谱仪各个参数,将备测物放在电波暗示1.5m高度的转动台上;
b) 旋转备测物,确定接收到最大功率时备测物的角度;
c) 改变测试天线(接收天线)的极化方向,高度(在1m到4m的高度范围内上下移动),确定接收到最大功率时测试天线的位置,并记录下频谱仪的值为“E”;
d) 拿开备测物,将替代天线放在与备测物天线所在的相同位置,并保证信号源通过替代天线发射出与备测物相同的频率;
e) 旋转转动台,记下接收到最大功率值时的方向;
f) 改变测试天线的高度,记下接收到最大功率值时接收天线的位置,调整信号源使频谱仪的读到功率值为“E”,此时信号源的功率记为“Ps”;
g) 计算出备测物天线功率:
PO = PS – GS + LF
PS 为信号源输出功率(dBm)
GS 为替换天线的天线增益
LF 为信号源到替换天线之间的损耗
用Po与制造商申明的功率作比较算出偏差。
4. 发射时间测试(Transmission time control)
测试信道:正常工作信道
测试电压:常压
测试设备:频谱仪
EUT设置:连续发射方式
频谱仪设置:
中心频率:测试频率
扫描带宽:0Hz
RBW/ VBW:1MHz
扫描时间:根据实际情况调整,保证能完整的扫描到样品发射时间
扫描点数:401
扫描方式:单次扫描(Single sweep)
检波方式:峰值检波(Positive peak)
EUT布置(测试环境):在电波暗室进行
如图所示:
测试步骤:
将备测物放在电波暗示1.5m高度的转动台上,按以上要求设置好频谱仪各项参数,让备测物持续发射信号,调整频谱仪扫描时间,保证能够完整的扫描到备测物发射信号时间,并记录下来;再调整频谱仪的扫描时间,使数据图清晰读到一个Pulse,读出一个Pulse所占时间宽度。
限值要求:
? l周期性发射信号产品:
单个Pulse发射时间<1s
发射持续时间:30*单个Pulse发射时间
? l非周期性发射信号产品:
单个Pulse发射时间<5s
发射持续时间:<90s
摩尔实验室(MORLAB)目前已经完成了大量的MIC无线认证(TELEC)项目,涉及产品包括Bluetooth、WIFI、WCDMA、SRD等其他短距离无线发射产品,并可提供针对日本市场的一站式测试和认证服务。
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