原创 DDR2 DDR3 信号和协议测试方法

目前在计算机主板和各种嵌入式的应用中，DDR3已经逐渐要取代DDR2成为市场的主流。DDR3相对于DDR2的主要优势再有更高的数据速率和更低的功耗，例如DDR2的数据速率最高到800MT/s，DDR3的最高数据速率可以到1600MT/s，而在有些嵌入式的应用中还有可能使用更高速率，因此对于设计和测试都提出了更高的要求。

为了进行可靠的探测，对于示波器器和探头的要求也非常高。对于DDR3的信号，由于JEDEC没有给出信号上升/下降时间的参数，因此用户只有根据使用芯片的实际最快上升/下降时间来估算需要的示波器带宽，对于DDR3的信号，20 - 80%的上升时间大约在80~120ps左右。对于传统的高斯频响的示波器，为了保证测量精度，通常需要示波器带宽是被测信号带宽的3～5倍，而对于Agilent的90000系列示波器，由于其优异的类似砖墙的频响特性，可以保证带内比较好的平坦度，因此可以使用以下公式：

Maximum signal frequency content = 0.4/fastest rise or fall time (20 - 80%)<?xml:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" />

Or Maximum signal frequency content = 0.5/fastest rise or fall time (10 - 90%)

Scope bandwidth required = 1.4x maximum signal frequency for 3% accuracy measurements

Scope bandwidth required = 1.2x maximum signal frequency for 5% accuracy measurements

Scope bandwidth required = 1.0x maximum signal frequency for 10% accuracy measurements

根据这个公式计算出来的示波器带宽通常都在4~8GHz，因此对于DDR3信号的测试，通常推荐的示波器和探头的带宽在8GHz。

对于DDR2和DDR3信号的测试，除了我们所熟知的双边沿采样以外，最主要的挑战在于2个方面，第一是如何进行读写信号的分离，第二是JEDEC规定了很多DDR3的参数，如何进行方便可靠的测量。附件中会分别进行介绍。