原创 云计算硬件平台的测试文章连载(3)- SAS的测试项目和测试码型

2016-2-19 14:24 2090 15 15 分类: 通信 文集: 硬件设计

      SAS规范定义了不同的测试点,以适应不同的测试内容的要求。这里面包括可以通过测试夹具测试到的测试点IT/CT以及在电缆或背板末端的IR/CR,在芯片内部的发射端在封装之前的芯片Die上的测试点ET,以及接收端芯片经过均衡后的测试点ER。下图是SAS12G规范里的测试点定义框图。

001.jpg
 

      根据SAS的测试规范要求,SAS测试包含3大部分内容:发射端信号质量测试、接收端抖动容限测试、互连阻抗和回波损耗测试。

 

      发射端信号质量测试,包括PHY,TSG,OOB测试,这部分主要是发射机的信号完整性方面的内容。PHY包括一般特性的信号质量,比如链路数据速率稳定度,及SSC(扩频时钟)特性;TSG包括发射机信号质量,比如共模参数,信号幅度、VMA、WDP、边沿时间和抖动参数;OOB测试主要是测量进行链路初始化时的OOB(out-of-band带外信令)的幅度/共模等参数特性,详细测试项目如下:

· Test 5.3.1: Physical Link Rate Long Term Stability

· Test 5.2.1: SSC Modulation Frequency

· Test 5.2.3: SSC Modulation Deviation and Balance

· Test 5.2.4: SSC DFDT (Informative)

· Test 5.3.2: Common Mode RMS Voltage Limit

· Test 5.3.3: Common Mode Spectrum

· Test 5.3.4: Peak-to-peak Voltage

· Test 5.3.5: VMA and EQ (Informative)

· Test 5.3.6: Rise and Fall Times

· Test 5.3.7: Random Jitter (RJ)

· Test 5.3.8: Total Jitter (TJ)

· Test 5.3.9: Waveform Distortion Penalty (WDP)

· Test 5.1.2: Maximum Noise During OOB Idle

· Test 5.1.3: OOB Burst Amplitude

· Test 5.1.4: OOB Offset Delta

· Test 5.1.5: OOB Common Mode Delta

 

SAS接收端抖动容忍度测试,主要是测试接收端对于抖动的容忍度。这部分测试项目不多,但确是测试最复杂,挑战性最大的。

· Test 1.1 - Stressed Receiver Device Jitter Tolerance Test Procedure for Trained 12 Gbit/s

 

SAS的互联测试,主要针对是阻抗不平衡和回波损耗的测试,反映系统互连和端口匹配等特性,测试内容如下:

· TEST 5.4.1 - RX DIFFERENTIAL RETURN LOSS(SDD11)

· TEST 5.4.2 - RX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC11)

· TEST 5.4.3 - RX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD11)

· TEST 5.4.4 - TX DIFFERENTIAL RETURN LOSS (SDD22)

· TEST 5.4.5 - TX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC22)

· TEST 5.4.6 - TX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD22)

 

      对于上述测试内容, UNH-IOL提供了详细的一致性测试文档,可以参考https://www.iol.unh.edu/testing/storage/sas/test-suites,查阅对应的文档。

 

      同时,SAS规范里还定义了多种测试码型,在发射机测试、互连测试和接收机测试时有明确的测试码型的要求,要求被测件能够生成或者通过BIST方式生成,主要的测试码型包括如下:

·HFTP(High Frequency Test Pattern)高频测试码型,1010101010 1010101010b,即重复的D10.2

·MFTP(Middle Frequency Test Pattern)中频测试码型,1100110011 0011001100b,即重复的D24.3

·LFTP(Low Frequency Test Pattern)低频测试码型,0111100011 1000011100b,即重复的D30.3
上述3个码型主要用于测试发射机的性能参数测试。

·LBP(Lone-Bit Pattern)单独位码型,主要用于测试SATA性能。

·CJPAT(Compliant Jitter Tolerance Pattern),一致性抖动容忍度码型

·SRAMBLE_0 Pattern  主要用于测试SAS 1.5, 3 and 6 Gbps WDP性能

·IDLE dwords pattern 主要用于SAS 12 Gbps测试,配合 SAS3_EYEOPENING script

 

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