JTAG的理论研究和设计实现 资源大小：1.88MB [摘要] 边界扫描技术是符合IEEE规范的一种测试方法，JTAG设计的实现降 低了测试的复杂度、提高了质量及缩短面市时问。适合进行超大规模集成电路的 测试。同时，JTAG以采用更小的体积而提供更强的功能的优势，主要应用到集成 电路设计和测试验证的开发研究方面，但实现边界扫描技术需要超出铂的附加芯 片
