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运放稳定性分析详解
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类别: 消费电子
时间:2020-01-16
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运放稳定性分析详解(三)运放稳定性 第 3 部分(共 15 部分):RO与ROUT 作者:Tim Green,德州仪器公司 本系列第 3 部分将着重澄清有关运放“输出阻抗”的一些常见误解。我们将会为运放定义两种不同的输出阻抗― ―RO和ROUT。RO 在我们开始稳定正在驱动容性负载的运放电路时变得极其有用。我们将介绍几种从运放厂商数 据资料上得出RO 的简单技术,此外还会给出几种针对其数据资料不包含RO指标的运放的实测技术。我们还将介 绍一种使用SPICE 运放模型和RO 的技巧,这种技巧将使您能使用SPICE环路增益测试并将RO作用包括进去(这 对容性负载驱动电路极其有用)。 RO和ROUT的定义与推导 这里,并且在本系列的各处,RO 定义为运放的开环输出阻抗。ROUT定义为运放的闭环输出阻抗。图 3.0 突出了这 两种不同阻抗间的重要差别。 RO = Op Amp Open Loop Output Resistance ROUT = Op Amp Closed Loop Output Resistance 图 3.0:RO 和 ROUT的定义与推导 图字:RO=运放开环输出阻抗,ROUT=运放闭环输出阻抗 图 3.0 显示RO 和 ROUT。ROUT为减小了环路增益倍的RO 。图 3.1 定义用于从RO 导出 ROUT的运放模型。此简化运 放模型专门用于描述运放的基本直流特征。在-IN与+IN之间具有高输入阻抗(100 m 到 G)。-IN与+IN之间 的压差在RDIFF上形成误差电压VE。该误差电压VE被放大开环增益系数Aol倍后变成VO。串联在VO至输出电压VOUT 之间的就是RO――开环输出阻抗。 RF RI -IN VFB +IN RDIFF VE + xAol + VO RO V OUT IOUT 1A Op Amp Model ROUT = VOUT/IOUT ……
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