测试测量资料下载_第151页-面包板社区

您能看得见的性能

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介绍泰克公司的逻辑分析仪选型指南您能看得见的性能Tektronix逻辑分析仪选型指南2009年3月目录您能看得见的性能2通用型逻辑分析仪和探头16高性能逻辑分析仪系统和采集模块及探头19测量和分析套件

Tektronix 逻辑分析仪
使用最新的BERTScope接收机解决方案，加快USB3.0一致性测试速度

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使用最新的BERTScope接收机解决方案，加快USB3.0一致性测试速度TektronixSimplifyingValidationandDebugofUSB3.0Designs-Tektronix

Tektronix bertscope接收机
示波器

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R&S示波器介绍www.scope-of-the-art.comwww.scope-of-the-art.com1ASIC2www.scope-of-the-art.comwww.scope-of-t

r&s 示波器
深入解析USB, SATA, DisplayPort标准认证与版本更新

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深入解析USB,SATA,DisplayPort标准认证与版本更新ComplianceProgramUpdateAnISO/IEC17025QualifiedTestLaboratoryAllion/

Tektronix usb sata
PCIe逻辑层和电气层问题调试考虑因素及一致性测试最新动态

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PCIe逻辑层和电气层问题调试考虑因素及一致性测试最新动态PCIExpress3.0TestingApproachesforPHYLayerEstimatedDatePCIExpress3.0Tech

Tektronix pcie
真正的轨至轨、高输入阻抗ADC简化了精准测量

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LTC2449增量累加ADC兼具高输入阻抗和宽输入范围的特点，只需少量的外部元件，就能够形成一个具有非常高输入阻抗和宽输入范围的出色测量系统。……

linear ltc2449 ADC
高速串行通道的仿真与验证

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高速串行通道的仿真与验证高速串行通道的仿真与验证ANSYS中国李宝龙2010ANSYS,Inc.Allrightsreserved.11ANSYS,Inc.Proprietary当今电子设计的挑战Si

Tektronix 高速串行通道
SATA/SAS 6G最新物理层测试方法

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SATA/SAS6G最新物理层测试方法PhysicalLayerValidationofStorageSystems-AdvancedToolsforValidationValidation,Debu

Tektronix satasas
PCIe 2.0/3.0验证、调试和一致性测试解决方案

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PCIe2.0/3.0验证、调试和一致性测试解决方案PCIExpress3.0TestingApproachesforPHYandProtocolLayersnametitleAgendaIntrod

Tektronix pcie
DDR验证和调试的高级方法

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DDR验证和调试的高级方法ValidatingandDebuggingDDR2,DDR3SDRAMDesigns-ComprehensiveTestsolutionfromAnalogtoDigita

Tektronix ddr
新一代超高速标准光信号和电信号的测量

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新一代超高速标准光信号和电信号的测量NextGenerationUltra-Highspeedstandards’measurementsofOpticalandElectricalsignalsAp

Tektronix
泰克高速混合信号测试方案应对信号完整性测试挑战

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泰克高速混合信号测试方案应对信号完整性测试挑战TektronixMSO70000混合信号示波器产品发布泰克科技(中国)有限公司Nov.2009日程数字系统最新技术/市场的发展MSO70000新产品的发

Tektronix 高速混合信号
DiiVA市场概况,设计和实现方案

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DiiVA市场概况,设计和实现方案TMDigitalInteractiveInterfaceforVideo&AudioTheHomeEntertainmentNetworkingStandardEn

Tektronix diiva
泰克高速光通讯测试解决方案

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泰克高速光通讯测试解决方案高速光通讯测试BrightZeng泰克科技（中国）有限公司主题采样示波器基础及应用光信号测试的项目以及要点如何改善光信号测试的精度，一致性以及重复性泰克10G/25G/40G

Tektronix 高速光通讯
XGbT-10GBaseT泰克自动测量解决方案

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XGbT-10GBaseT泰克自动测量解决方案XGbT……

Tektronix xgbt-10gbaset
USB3.0验证、调试和一致性测试解决方

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USB3.0验证、调试和一致性测试解决方熟练USB物理层验证-TektronixUSB测试方法介绍泰克创新论坛2009年4月日程简介USB3.0SuperSpeed……

Tektronix usb3.0
测试案例分析--提升测试精度、缩短测试时间

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测试案例分析--提升测试精度、缩短测试时间使用泰克方案解析常见测试案例--提升测试精度、缩短测试时间王庆宇qingyu.wang@tek.comAgenda模拟数据域联合调试简化Xilinx和Alte

Tektronix 测试精度

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