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    时间:2020.03.23
    上传者:givh79_163.com
    安捷伦LTE设计和测试产品系列提供最全面的3GPPLTE设计与测试工具,包括软件设计、信号分析、一致性测试以及其他。安捷伦内容丰富的LTE文档库(包括应用指南、演示光盘等等),可以帮助您更好地理解和认
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    时间:2020.03.23
    上传者:quw431979_163.com
    开发先进的雷达和电子战系统,通常要先用软件工具进行元器件设计和系统仿真,然后进行原型设计并使用测试仪器进行测量。过去,由于没有工具可以把仿真和物理测试两个环节连接起来,所以软件仿真和硬件原型trl量之
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    时间:2020.03.23
    上传者:微风DS
    全新的InfiniiumDSA/DSO90000A系列示波器具有出色的信号完整性、突破极限的存储器深度,以及无与伦比的信号分析与调试能力,能够帮助您更深入地分析高速数字和射频设计。90000A系列示波
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    时间:2020.01.03
    上传者:2iot
    目前面向各种应用的自动测试系统已经将以上三技术结合在一起,甚至形成了芯片上的系统(SOC)。LOGO电子测量仪器技术发展发展研究报告DevelopingreportonMeasurementandIn
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    时间:2020.03.23
    上传者:978461154_qq
    摘要:论述电阻器标称阻值的制定原则。对工信部颁布的标称阻值提出质疑并给出个人的修正意见。最后指明电阻器阻值的选用方法。……
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    时间:2020.03.23
    上传者:givh79_163.com
    摘要:利用ADI公司的MEMS陀螺仪ADXRS612和ADuC7026微控制器,对飞行器在垂直起降阶段进行姿态倾角测量。由于该陀螺仪随着时间的积累,会产生较大漂移,采用ADI公司的MEMS加速度计AD
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    时间:2020.03.23
    上传者:2iot
    为了提高太阳能电池效率以及匹配分立电池用于电池板的构建,太阳能电池的开发和生产需要测试大量的材料和器件AGREATERMEASUREOFCONFIDENCE改善太阳能电池的测试:加快开发和生产的关键J
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    时间:2020.03.23
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    进行精密、准确的电压测量技术已为人们所熟知。但是当测量分辨率必须扩展到1微伏以下时,很多方法就达不到要求了Number200ApplicationNoteSeries掌握低电压测量л……
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    时间:2020.03.23
    上传者:238112554_qq
    目前,各种市场趋势正在推动和牵引着最新一代测试和测量仪器的发展AGREATERMEASUREOFCONFIDENCEㄟ↓……
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    时间:2020.03.23
    上传者:微风DS
    HPLED模块虽然面临巨大的测试挑战,但完全可以克服LED测试面临的下一个重大挑战:高功率LED模块20世纪60年代以来出现了发光二极管(LED),最初通常用作指示灯和七段显示器。LED本质上是一种半
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    时间:2020.03.23
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    有机发光二极管(OLED)显示器采用了一种新颖的平板技术。它以有机材料涂层构成一个p-n结,当注入的载流子复合时就会发光Number2402ApplicationNoteSeriesOLED显示器的D
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    时间:2020.03.23
    上传者:16245458_qq.com
    用2420型源表仪测量光电池I-V特性Number1953ApplicationNoteSeries用2420型源表仪测量光电池I-V特性前言FF=ImVm/ISCVOC光电池(PV)把太阳光直接转换
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    时间:2020.03.23
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    开展精确、成本经济的高亮度LED测试Number3125ApplicationNote从器件基本特性入手开展精确、Series成本经济的高亮度LED测试高亮发光二极管(Highbrightnessli
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    时间:2020.03.23
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    FilterDesignfordsPIC™DSCDigitalFilterDesignandAnalysisSystemFilterDesignfordsPICDSCDigitalFilterDesi
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    时间:2020.03.23
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    心电图(ECG)解决方案.pdf心电图(ECG)解决方案ECG系统原理和典型架构心电图(ECG)系统通过测量活组织表面电位来记录心脏在一段时间内的电性活动。它使用生物电位电极来拾取身体特定部位的心脏信
    adi
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    时间:2020.03.23
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    我们已使用PXIExpress自动测试系统完成多个项目,并获得非常满意的效果。自动测试系统大大减少了芯片测试的时间,而其快速、准确的直流测试更是实验室的宝贵财富。使用PXI模块化仪器完成超低功耗ASI
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    时间:2020.03.23
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    摘要:dIT/dt是衡量可控硅可靠性的一个重要参数,过高的dIT/dt可能会导致可控硅损坏或失效,故设计一个能准确测量此参数的低成本线路显得尤为关键。本文设计了一个简洁的测量可控硅dIT/dt的测试电