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NI CompactRIO 技术指标说明
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类别: 测试测量
时间:2020-01-01
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资料介绍
NI CompactRIO嵌入式测控平台为工业与嵌入式控制应用提供所需的高性能与高可靠性以及自定制的灵活性。 CompactRIO提供了一个开放的嵌入式架构,包括内置的嵌入式控制器、实时操作系统、可编程FPGA以及小型、坚固且可热插拔的工业I/O模块。帮助您快速实现测量与控制系统的自定义设计、原型及发布。……
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