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利用正向压降测量半导体结温
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类别: 测试测量
时间:2020-01-01
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资料介绍
从集成电路中数以百万计晶体管到制造高亮度LED的大面积复合结,半导体结可能由于不断产生的热量而在早期发生故障 A G R E A T E R M E A S U R E O F C O N F I D E N C E 与结温近似为线性关系,可以用数学 公式表达如下: Tj = m Vf +To (式1) 利用正向压降测量 其中, Tj = 结温,单位℃ 半导体结温 m = 斜率*,单位℃/V Vf = 正向压降 ……
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