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普赛斯仪表 2025-6-19 17:07: 细数IGBT测试指标及应对检测方案; IGBT 产品，按照封装形式和集成程度的不同，可分为 I GBT 裸片、 IGBT 单管、 IGBT 模块以及 IPM/ PIM 模块。其中， I GBT 模块主要构 ...; 407 0 0 10

IGBT测试

普赛斯仪表 2025-1-15 15:42: 国产S系列数字源表的发展史; 在半导体、汽车、医疗等高端制造行业，源表通常被用于半导体材料或精密器件的电性能特性测试和生产测试应用，以及中低电平测试和实验室研究使用。源表采用四象 ...; 370 2 0 3

国产源表数字源表源表发展

普赛斯仪表 2024-12-17 15:02: 数字源表选购技巧; 数字源表也称为源测量单元 (SMU), 集数字万用表、电压源、电流源、电子负载以及脉冲发生器、波形发生器等功能于一体，同时可精确限流保护器件不受损坏。 ...; 242 1 0 2

数字源表

普赛斯仪表 2024-11-14 16:14: 原创三代半功率半导体测试挑战及应对方案; 功率半导体应用现状随着新能源汽车800V高压快充技术的兴起，SiC凭借其高热导率、高击穿场强、高饱和电子漂移速率以及高键合能等一系列显著优势，成 ...; 663 6 0 6

三代半测试功率测试半导体测试

普赛斯仪表 2024-10-29 14:39: 原创数字源表与探针台连接示意图及注意事项有哪些？; 1、前言在半导体和集成电路工艺中，材料、晶圆、芯片的测试是必不可少的环节。随着半导体测试技术的发展，数字源表SMU结合探 ...; 808 4 0 4

数字源表探针台连接注意事项

普赛斯仪表 2024-10-21 15:53: 基于SMU源表的量子效率检测系统; 在太阳能电池光电性能测试中，量子效率包含着太阳能电池光电转换能力等许多信息。它不但能反映太阳能电池内各层材料的质量，也能反映减反膜、辐照损伤和各个界 ...; 445 5 0 5

量子效率检测系统

普赛斯仪表 2024-9-5 15:10: 基于国产数字源表的柔性电子材料形变测试方案; 柔性电子材料及其应用柔性电子是将无机/有机器件附着于柔性基底上形成电路的技术。相对于传统硅电子,柔性电子是指可以弯曲、折叠、扭曲、拉伸、甚至变形 ...; 487 2 0 2

柔性材料测试柔性材料形变测试数字源表

普赛斯仪表 2024-8-22 15:38: 原创 SiC/IGBT功率器件应用发展及其测试解决方案; SiC/IGBT功率器件应用发展 IGBT(绝缘栅双极型晶体管)是电力控制和电力转换的核心器件,是由BJT(双极型晶体管)和MOS(绝缘栅型场 ...; 686 4 0 4

IGBT测试 SiC测试功率器件测试半导体参数分析

普赛斯仪表 2024-8-21 15:36: 国产数字源表用于光伏电池片测试系统; 太阳能电池也叫光伏电池，其发电过程主要有三部分：D一，半导体材料吸收光能产生出非平衡的电子-空穴对或偶极子；第二，非平衡电子和空穴从产生处向势场运动 ...; 443 4 0 4

国产源表数字源表光伏测试电池片测试光伏测试系统

普赛斯仪表 2024-8-9 14:04: 基于数字源表的纳米发电机测试方案; 纳米发电机是基于规则的氧化纳米线，在纳米范围内将机械能、热能等转化为电能，是世界上最小的发电机。目前主要包括:摩擦纳米发电机、压电纳米发电机、热释电 ...; 462 6 0 6

数字源表纳米发电机测试纳米材料测试

普赛斯仪表 2024-7-23 14:23: 功率半导体器件静态特性测试挑战及应对测试方案; 功率半导体是电子产业链中最核心的一类器件，能够实现电能转换和电路控制作用。功率半导体包括功率半导体分立器件(含模块)以及功率IC等。其中，功率 ...; 950 2 0 2

功率器件半导体器件静态测试静态参数

普赛斯仪表 2024-7-17 16:18: 原创数字源表测试光电探测器电性能方案介绍; 光电探测器光电测试光电探测器一般需要先对晶圆进行测试,封装后再对器件进行二次测试,完成最终的特性分析和分拣操作;光电探测器在工作时,需要施 ...; 691 8 0 8

数字源表光电探测器电性能电性能测试

普赛斯仪表 2024-6-26 13:54: 基于数字源表的柔性材料形变测试系统; 柔性电子材料“动态”测试难点柔性电子材料在使用过程中会被反复弯折扭曲，在此过程中材料表面和内部的应力状态和微观结构都 ...; 469 6 0 6

数字源表柔性材料形变测试柔性材料动态测试

普赛斯仪表 2024-6-12 16:01: 如何用数字源表快速扫描IC芯片的漏电流、DC参数等指标？; 芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺陷、验证器件是否符合设计目标 ...; 1187 3 0 3

数字源表 DC参数漏电流

普赛斯仪表 2024-5-30 14:45: 原创 SMU数字源表搭建半导体霍尔效应测试实验平台; 本科生微电子器件及材料实验目的通过实验动手操作，加深对半导体物理理论知识的理解，掌握半导体材料和不同器件性能的表征方法及基本实验技能，培养分析 ...; 620 7 0 7

数字源表 SMU源表霍尔效应测试霍尔实验平台

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