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封装与测试技术
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时间:2019.08.05
上传者:328230725_895182095
一、集成电路的封装方法双列直插式(DIP:DualIn-linePackage)表面安装封装(SMP:SurfaceMountedPackage)球型阵列封装(BGA:BallGridArrag)芯片
封装
测试
转贴 运放的具体应用电路
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时间:2021.12.14
上传者:老愚童
这是转自51黑论坛的有关运放的比较实用的电路,非常适合初学者学习
转贴
运放
具体
应用电路
芯片测试的几个术语及解释
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时间:2019.08.05
上传者:328230725_895182095
CP是把坏的Die挑出来,可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道Wafer的良率。FT是把坏的chip挑出来;检验封装的良率。现在对于一般的wafer工艺,很多公司多把CP给省了;减少成本。CP对
芯片
测试
运算放大器测试基础:测试运算放大器需要稳定的测试环路
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时间:2019.07.26
上传者:328230725_895182095
静态电流静态电流是指器件输出电流等于零时其所消耗的电流。尽管IQ测试看起来相当简单,但也必须注意确保良好的结果,尤其是在处理极高或极低IQ部件时。图1是可用来测试IQ及其它参数的三种实用电路,其必须考
运算放大器
GJBZ 299A-1991 电子设备可靠性预计手册
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时间:2022.01.11
上传者:stananan
GJBZ299A-1991电子设备可靠性预计手册
GJBZ
299A1991
电子设备
可靠性预计
手册
TDR_TDT测量原理分析-硬件设计讨论
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时间:2020.11.12
上传者:czdian2005
国产电压、电流、功率监视器
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时间:2024.09.03
上传者:jialibin
国产电压、电流、功率监视器,可替代TIINA2*测量范围0V~36V,I2C、SMBUS数字接口支持高边、低边检测
国产
电压
电流
功率
监视器
集成电路的测试与封装
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时间:2019.08.05
上传者:328230725_895182095
设计错误测试设计错误测试的主要目的是发现并定位设计错误,从而达到修改设计,最终消除设计错误的目的。设计错误的主要特点是同一设计在制造后的所有芯片中都存在同样的错误,这是区分设计错误与制造缺陷的主要依据
集成电路的测试与封装
燃气涡轮发动机
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时间:2022.06.16
上传者:eisbergeisberg
燃气涡轮发动机气动热力学理论及其应用(上册)作者:[美]奥茨著翻译:张逸民李燕生出版社:国防工业出版社 &
燃气
涡轮发动机
EMI解决器材清单 by Wyatt
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时间:2020.05.09
上传者:指的是在下
EMI问题解决器材byWyatt
by
Wyatt
LabVIEW Statechart Module.pdf
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时间:2020.06.17
上传者:Argent
有关LabVIEW程序设计资料,有兴趣的网友自行下载吧。有关LabVIEW编程环境、LabVIEW前面板设计、LabVIEW程序流程和结构、波形显示、程序动态控制、文件输入输出、生成安装包和可执行文件
LabVIEW
Statechart
Modulepdf
芯片测试的意
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时间:2019.08.05
上传者:328230725_895182095
芯片测试的意义•芯片的测试分两次。在芯片制造完成后必须对圆片上的芯片(小片,Die)进行测试。测试后进行切割。测试合格的芯片才能进行封装。封装完成后的芯片还要进行第二次测试•当已经封装的芯片被测出故障
用CMU200在蓝牙模块上进行发送器和接收器测量 英文版
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时间:2019.11.05
上传者:Kayla
TheRohde&SchwarzCMU200testsetcanbeconfiguredasastandaloneBluetoothtestsolutionforproduction,R&am
cmu
振荡器的相位噪声与频率稳定度
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时间:2023.04.28
上传者:eisbergeisberg
振荡器的相位噪声与频率稳定度
振荡器
相位噪声
频率稳定度
ADALM2000-Active-Learning-Module
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时间:2023.04.23
上传者:EPTmachine
ADALM2000-Active-Learning-Module
ADALM2000ActiveLearningModule
Active-Learning-Program-for-Students
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时间:2023.04.23
上传者:EPTmachine
Active-Learning-Program-for-Students
8、谷景科普磁环绕线电感精度等级越高越好吗.
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时间:2024.06.17
上传者:谷景电子电感
8、谷景科普磁环绕线电感精度等级越高越好吗.
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