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第三代功率半导体器件测试解决方案 直播时间： 03月06日 10:00
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用户1589850 2011-8-29 09:32
- 纳米测量最优解决方案
- 本文仅仅探讨了纳米技术 的多种应用中的少数几个，以及需要更为深入地理解所研究的器件和材料时必须采用的测量方法。每天，各研发实验室都诞生各种新的思想和 ...
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- 纳米测量最优解决方案
- 本文仅仅探讨了纳米技术 的多种应用中的少数几个，以及需要更为深入地理解所研究的器件和材料时必须采用的测量方法。每天，各研发实验室都诞生各种新的思想和 ...
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- 纳米电测量的实例分析II
- 为了对这里所示的三种示例进行I－V特性测试，我们建议使用各种不同的商用I－V特性测试工具。有些源－测量一体单元还可以更低的成本提供相同的测试功能，从而 ...
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- 纳米电测量的实例分析II
- 为了对这里所示的三种示例进行I－V特性测试，我们建议使用各种不同的商用I－V特性测试工具。有些源－测量一体单元还可以更低的成本提供相同的测试功能，从而 ...
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- 纳米电测量的实例分析I
- 碳纳米管的特性使得它们成为一种出色的电子元件材料 。图6示出了FET结构所使用的碳纳米管 。为了发现器件的I－V特性曲线 ，建议采用有弱电流测量 功能的仪器 ...
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- 纳米电测量的实例分析I
- 碳纳米管的特性使得它们成为一种出色的电子元件材料 。图6示出了FET结构所使用的碳纳米管 。为了发现器件的I－V特性曲线 ，建议采用有弱电流测量 功能的仪器 ...
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- 纳米测量与DUT的电连接的秘密
- 为了与纳米器件 或者元件实现电接触，必需提供相应的夹具、显微镜和探针系统 。当今的纳米研究者正在使用诸如原子力显微镜、扫描电子显微镜和聚 焦离子束工具 ...
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- 温度对纳米测量的影响是什么？
- 热电压或者EMF是低电压测量 中最常见的误差源。如图5所示，当电路的不同部分处于不同的温度时，以及由不同材料构成的导体连接到一起时，就会产生这些电压。表 ...
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- 纳米测量与DUT的电连接的秘密
- 为了与纳米器件 或者元件实现电接触，必需提供相应的夹具、显微镜和探针系统 。当今的纳米研究者正在使用诸如原子力显微镜、扫描电子显微镜和聚焦离子束工具 ...
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- 温度对纳米测量的影响是什么？
- 热电压或者EMF是低电压测量 中最常见的误差源。如图5所示，当电路的不同部分处于不同的温度时，以及由不同材料构成的导体连接到一起时，就会产生这些电压。 ...
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- 纳米测量中屏蔽罩的重要作用
- 电缆的不当使用会造成测量时间过长的问题。共轴电缆提供了一个传输信号的内导体和屏蔽。内导体和屏蔽之间存在着可供漏电流流过的旁路电阻和电容通路 （图4） ...
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- 纳米测量中屏蔽罩的重要作用
- 电缆的不当使用会造成测量时间过长的问题。共轴电缆提供了一个传输信号的内导体和屏蔽。内导体和屏蔽之间存在着可供漏电流流过的旁路电阻和电容通路 （图4） ...
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- 纳米测量电流误差解决方案
- 其他应对移动和振动 问题的解决方案包括： •除去振动源或者与振动源间在机械上解耦。电机、水泵和其他机电装置都是常见的振动源 。 •稳定整个测试 ...
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- 纳米测量电流误差来自哪里？
- 要测量弱电流，就必须理解各种潜在的误差源 ，这些误差会造成人们所不希望出现的测量误差 。影响多种类型的纳米电子器件的测量结果的两种极为常见的误差源是 ...
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- 纳米测量电流误差来自哪里？
- 要测量弱电流，就必须理解各种潜在的误差源 ，这些误差会造成人们所不希望出现的测量误差 。影响多种类型的纳米电子器件的测量结果的两种极为常见的误差源是 ...
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