用户1589850的文章-第28页-面包板社区

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用户1589850 2011-7-27 17:05: C-V测量技术、技巧与陷阱—— C-V测量方法与应用的匹配; 交流阻抗技术是最常用的电容测量技术。它最适合于一般的低功率门电路，也适用于大多数测试结构和大多数探针。其优势在于所需的设备相对便宜，大多数电子实验 ...; 1080 6 0 6

it ic 测试测量电阻电压

用户1589850 2011-7-27 17:02: C-V测量技术、技巧与陷阱—— C-V测量方法与应用的匹配; 交流阻抗技术是最常用的电容测量技术。它最适合于一般的低功率门电路，也适用于大多数测试结构和大多数探针。其优势在于所需的设备相对便宜，大多数电子实验 ...; 882 9 0 9

it 技术测量测试应用

用户1589850 2011-7-26 09:54: C-V测量技术、技巧与陷阱——基于数字源表的准静态电容测量; 在准静态电容测量中，我们通过测量电流和电荷来计算电容值。这种“斜率”方法使用简单，但是它的频率范围有限（1 ～10Hz），因而只能用于一些特殊情况下。 ...; 1775 8 0 8

测量半导体电容 it

用户1589850 2011-7-26 09:51: C-V测量技术、技巧与陷阱——基于数字源表的准静态电容测量; 在准静态电容测量中，我们通过测量电流和电荷来计算电容值。这种“斜率”方法使用简单，但是它的频率范围有限（1 ～10Hz），因而只能用于一些特殊情况下。 ...; 1055 5 0 5

测量电容技术 it 半导体

用户1589850 2011-7-25 09:46: C-V测量技术、技巧与陷阱——交流阻抗电容计以及交流阻抗参数的测量方法; 交流阻抗表，也称为LCR表（电感、电容、电阻），利用一个自动平衡电桥保持电容的检测端交流假接地，从而测量复阻抗。这类电表通常的频率范围为1kHz到10M ...; 2136 12 0 12

it ic 测试测量电阻电压

用户1589850 2011-7-25 09:40: C-V测量技术、技巧与陷阱——交流阻抗电容计以及交流阻抗参数的测量方法; 交流阻抗表，也称为LCR表（电感、电容、电阻），利用一个自动平衡电桥保持电容的检测端交流假接地，从而测量复阻抗。这类电表通常的频率范围为1kHz到10M ...; 1753 6 0 6

测量电容电阻电压 it

用户1589850 2011-7-22 09:58: C-V测量技术、技巧与陷阱概述; 在之前的文章 “半导体C-V测量基本原理 ”中曾经谈到过，电容-电压测试长期以来被用于判断多种不同器件和结构的各种半导体参数，范围从MOSCAP、MOSFET、双极 ...; 1718 7 0 7

it 半导体测试测量

用户1589850 2011-7-22 09:56: C-V测量技术、技巧与陷阱概述; 在之前的文章 “半导体C-V测量基本原理 ”中曾经谈到过，电容-电压测试长期以来被用于判断多种不同器件和结构的各种半导体参数，范围从MOSCAP、MOSFET、双极 ...; 1089 8 0 8

测量测试技术半导体 it

用户1589850 2011-7-21 09:39: 生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——最大限度减少LED测试误差; Common sources of measurement error in LED production testing include lead resistance, leakage current, electrostatic interference, and light inter ...; 1349 8 0 8

it ic 测试测量

用户1589850 2011-7-21 09:32: 生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——最大限度减少LED测试误差; LED生产测试中的常见测量误差源包括引线电阻、漏电流、静电干扰和光干扰，但是结自热是最重要的误差源之一。对结发热最敏感的两种测试是正向电压测试和漏 ...; 1136 7 0 7

测试 it 测量 ic

用户1589850 2011-7-20 09:36: 生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——多器件/阵列的LED测试系统LED Test System for Multiple Devices/Arrays; In multiple device tests, such as those that involve burn-in, multiple parts are measured simultaneously over a specified period. A continuous curr ...; 1336 8 0 8

it 测试 ic 开关

用户1589850 2011-7-20 09:34: 生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——多器件/阵列的LED测试系统LED Test System for Multiple Devices/Arrays; In multiple device tests, such as those that involve burn-in, multiple parts are measured simultaneously over a specified period. A continuo ...; 926 7 0 7

it ic 开关测试

用户1589850 2011-7-19 10:08: 生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——单LED器件测试系统; Figure 2 is a simplified block diagram of a system for testing a single LED. For automation purposes, a PC and a component handler—a probe stat ...; 1536 10 0 10

it 测量 ic ad

用户1589850 2011-7-19 09:37: 生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——单LED器件测试系统; LED Test System for a Single Device Figure 2 is a simplified block diagram of a system for testing a single LED. For automation purposes, ...; 863 9 0 9

测试 ic 测量 it

用户1589850 2011-7-19 09:37: 生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——智能仪器增大LED生产测试产能; Smart Instruments Increase LED Production Test Throughput In the past, a PC often controlled all aspects of the test in many LED production t ...; 1187 9 0 9

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