用户1589850的文章-第26页-面包板社区

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用户1589850 2011-8-16 09:49: 纳米测量中学习曲线和灵敏度/分辨率的挑战; 仪器操作中繁琐的编程工作以及神秘的种种细节会分散工作繁重的研究者的精力。许多电特性测量工具都极为复杂，而且它们的数据传输机制极为冗琐，需要大容量 ...; 1007 7 1 8

it 测试测量编程

用户1589850 2011-8-16 09:38: 纳米测量中学习曲线和灵敏度/分辨率的挑战; 仪器操作中繁琐的编程工作以及神秘的种种细节会分散工作繁重的研究者的精力。许多电特性测量工具都极为复杂，而且它们的数据传输机制极为冗琐，需要大容量 ...; 1556 5 0 5

编程测量 it 功能

用户1589850 2011-8-15 09:47: 纳米测量的基本原理; 对纳米元器件的电测量——电压、电阻和电流——都带来了一些特有的困难，而且本身容易产生误差。研发涉及量子水平上的材料与元器件，这也给人们的电学测量工 ...; 852 6 0 6

it 电阻电压噪声

用户1589850 2011-8-15 09:28: 纳米测量的基本原理; 对纳米元器件的电测量——电压、电阻和电流——都带来了一些特有的困难，而且本身容易产生误差。研发涉及量子水平上的材料与元器件，这也给人们的电学测量工 ...; 1215 9 0 9

it 电阻电压噪声测量

用户1589850 2011-8-12 12:25: 纳米电测量中存在的挑战; 研究者们在试图进行灵敏的测量之前，还必须理解一些纳米电测量中存在的挑战。这些挑战包括： •测量的基本原理 •学习曲线 •灵敏度与分辨 ...; 1118 7 0 7

it led 测试测量

用户1589850 2011-8-12 11:20: 纳米电测量中存在的挑战; 研究者们在试图进行灵敏的测量之前，还必须理解一些纳米电测量中存在的挑战。这些挑战包括： •测量的基本原理 •学习曲线 •灵敏度与分辨 ...; 812 8 0 8

led 测量 it 测试应用

用户1589850 2011-8-11 09:54: 纳米技术所需的电测量方法— 概述; 具有广泛且多样化应用的纳米科学技术，推动着研究者不断运用碳纳米管、化学分子、量子点、甚至聚合物研发出新的材料和元器件。对这些纳米尺度的元器件与材 ...; 1330 8 0 8

it ic 测试测量

用户1589850 2011-8-11 09:34: 纳米技术所需的电测量方法— 概述; I 纳米技术所需的电测量方法— 概述具有广泛且多样化应用的纳米科学技术，推动着研究者不断运用碳纳米管、化学分子、量子点、甚至聚合物 ...; 990 6 1 7

it 测量技术电子电阻

用户1589850 2011-8-10 12:17: 超快I-V源和测量技术的应用; 超快I-V源和测量技术随着越来越多传统直流I-V测量功能的消失而迅速发展。注意到，传统SMU设计能够提供和测量最高约1A的电流，最低约1皮安的电流。尽管增加远 ...; 968 8 0 8

it 半导体测试测量

用户1589850 2011-8-10 09:24: 超快I-V源和测量技术的应用; 超快I-V源和测量技术随着越来越多传统直流I-V测量功能的消失而迅速发展。注意到，传统SMU设计能够提供和测量最高约1A的电流，最低约1皮安的电流。尽管增加远 ...; 900 6 0 6

应用测量测试 it 电压

用户1589850 2011-8-9 09:46: 最新一代的超快I-V测试系统参数分析仪; 最新一代的参数分析仪可以通过配置最大限度减少或消除很多与内部构建的BTI特征分析系统相关的缺陷。它们不是采用分离的脉冲或波形发生器与示波器，而是将这些 ...; 1053 7 0 7

it 半导体测试测量

用户1589850 2011-8-9 09:31: 最新一代的超快I-V测试系统参数分析仪; 最新一代的参数分析仪可以通过配置最大限度减少或消除很多与内部构建的BTI特征分析系统相关的缺陷。它们不是采用分离的脉冲或波形发生器与示波器，而是将这些 ...; 1076 5 0 5

测量 it ic emi 测试

用户1589850 2011-8-8 09:31: 超快I-V测试系统面临的挑战; 波形发生。标准脉冲发生器和任意波形发生器的设计是在固定循环间隔上产生波形，而不是大多数可靠性测试（包括NBTI和PBTI测试）所需的Log （time） ...; 961 6 0 6

it 半导体测试测量

用户1589850 2011-8-8 09:28: 超快I-V测试系统面临的挑战; 波形发生。标准脉冲发生器和任意波形发生器的设计是在固定循环间隔上产生波形，而不是大多数可靠性测试（包括NBTI和PBTI测试）所需的Log （time） ...; 767 9 0 9

测试测量示波器 it 控制

用户1589850 2011-8-5 11:33: 展望下一代超快I-V测试系统; 要想成为主流测试技术，下一代超快I-V测试系统必须具有很宽的源与测量动态量程。这意味着它们必须能够提供对闪存器件进行特征分析所需的充足电压，以及处理 ...; 1085 7 0 7

it ic 测试测量电阻电压

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