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    IC测试引言本系列一共四章,第一章节主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理,内容覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语;第二章节将讨论怎么把这些原理应用到存储器和
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    《ProductionTestingofRFandSystem-on-a-ChipDevicesforWirelessCommunications》电子书ProductionTestingofRFan
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    2009竞赛题目2009年全国大学生电子设计竞赛试题|||||参赛注意事项||(1)2009年9月2日8:00竞赛正式开始。本科组参赛队只能在【本科组】题目||中任选一题;高职高专组参赛队在【高职高专
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    IntegratedCircuitTestEngineeringIntegratedCircuitTestEngineeringIanA.GroutIntegratedCircuitTestEngin
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    digitallogictestingandsimulationDIGITALLOGICTESTINGANDSIMULATIONDIGITALLOGICTESTINGANDSIMULATIONSECO
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    IC测试技术——设计验证DigitalCircuitFunctionalVerification本课程的目的:1.建立数字集成电路的测试概念与基本方法;2.测试是基于数字集成电路的功能;3.用于电路的
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    C_和Matcom混合编程在数值计算编程的应用……
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    http://www.powerq.com.cn本对比表就如下参数作出参数对比:电流钳,谐波分析,电压通道,电流通道,电压量程,电流量程,频率范围,波形显示,闪变,启动电流,电能累计,功率分析,参数记
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    DigitalChipTestingwithAgilent93000SoCSeries……
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    NICompactRIO平台配置指导及用户方案基于NICompactRIO的系统集成指导www.ni.com/compactrio/zhs/www.vi-china.com.cnNICompactRI
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    PACUserSolutionlNationalInstruments工业控制自动化行业解决方案生产线自动化、钢铁冶金、机械设备制造、石油天然气、建筑结构监控、绿色节能与安全、水处理、电力与能源、机器
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    探头ABCABC!ABCwww.tektronix.com/accessories1!!"#$%&'!!"#$%&'()!"#$%&'(!"#!"#$%&'()*!!"#$%&'()*+,%-./01
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    29.Photonic全参数分析仪编程指南Agilent81910APhotonicAll-ParameterAnalyzerProgrammer’sGuideAgilentTechnologiesN
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    37.U2972ACCFL面板测试解决方案操作指南U2972ACCFLPanelTestSolutionOperatingGuideAgilentTechnologiesNoticesAgilentT
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    pcie一致性测试方法PCIE系统架构及物理层一致性测试PCIE系统架构PCIE22009-9-21高速信号完整性工程师培训课程PCIE协议的分层PCIE设备APCIE设备B设备核心设备核心设备核心逻
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    Single-chipanalogtransceiverforUHFto900MHzNXPUHFto900-MHztransceiverSA58646Single-chipanalogtranscei
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    ☆力科公司及其示波器系列产品简介☆什么是示波器☆示波器的类型及区别☆数字示波器前端输入的主要构成☆数字示波器的主要指标及选择指南示波器基础原理及基本指标美国力科上海代表处胡为东021-52400999