测试测量
首页 测试测量
ONEZ 2025-1-10 15:30
测量探头的 “温漂” 问题,对于晶圆厚度测量的实际影响
一、“温漂” 现象的本质剖析 测量探头的 “温漂”,指的是由于环境温度变化或探头自身在工作过程中的发热,导致探头的物理特性发生改变,进而使其测量精度 ...
ONEZ 2025-1-10 11:13
不同的真空吸附方式,对测量晶圆 BOW 的影响
在半导体产业蓬勃发展的当下,晶圆作为芯片制造的基础材料,其质量把控贯穿整个生产流程。其中,晶圆的 BOW(弯曲度)测量精度对于确保后续工艺的顺利进行以及 ...
百佳泰测试实验室 2025-1-9 17:47
原创 车机导航有看没有懂?智能汽车语系在地化不可轻忽!
车机导航有看没有懂?智能汽车语系在地化不可轻忽! 随着智能汽车市场全球化的蓬勃发展,近年来不同国家地区的「Automotive Localization」(汽车在地化 ...
百佳泰测试实验室 2025-1-9 17:35
原创 POS机连接中断问题如何改善?
在当前人工智能(AI)与物联网(IoT)的快速发展趋势下,各行各业的数字转型与自动化进程正以惊人的速度持续进行。如今企业在设计与营运技术系统时所面临的挑战不 ...
百佳泰测试实验室 2025-1-9 17:33
原创 HDMI规范2.2版即将登场, 96Gbps开启新时代!
HDMI 2.2 规格将至,开启视听新境界 2025年1月6日,HDMI Forum, Inc. 宣布即将发布HDMI规范2.2版本。 新HDMI规范为规模庞大的 HDMI 生态系统带来 ...
ONEZ 2025-1-9 17:09
晶圆的环吸方案相比其他吸附方案,对于测量晶圆 BOW/WARP 的影响
在半导体制造领域,晶圆的加工精度和质量控制至关重要,其中对晶圆 BOW(弯曲度)和 WARP(翘曲度)的精确测量更是关键环节。不同的吸附方案被应用于晶圆测量过 ...
ONEZ 2025-1-9 11:00
反射镜的移动,实现白光干涉中的机械相移原理
在白光干涉测量中,通过反射镜的移动来实现机械相移原理是一种常见且有效的方法。以下是对这一原理的详细解释: 一、基本原理 白光干涉测量技术基于光的波动 ...
ONEZ 2025-1-8 16:12
用于半导体外延片生长的CVD石墨托盘结构
一、引言 在半导体制造业中,外延生长技术扮演着至关重要的角色。化学气相沉积(CVD)作为一种主流的外延生长方法,被广泛应用于制备高质量的外延片。而在CVD ...
ONEZ 2025-1-8 11:06
通过样品台的移动,实现白光干涉中的机械相移原理
在白光干涉测量技术中,通过样品台的移动来实现机械相移原理是一种常用的且高精度的方法。这种方法基于光的波动性和相干性,通过改变样品台的位置,即改变待测 ...
ONEZ 2025-1-7 16:36
钟罩式热壁碳化硅高温外延片生长装置
一、引言 随着半导体技术的飞速发展,碳化硅(SiC)作为一种具有优异物理和化学性质的材料,在电力电子、微波器件、高温传感器等领域展现出巨大的应用潜力。高 ...
ONEZ 2025-1-7 11:14
光学元件的插入与移除,实现白光干涉中的机械相移原理
在白光干涉测量中,通过光学元件的插入与移除来实现机械相移原理是一种独特而有效的方法。这种方法的核心在于利用光学元件(如透镜、反射镜、棱镜等)对光路的 ...
ONEZ 2025-1-6 15:25
减少减薄碳化硅纹路的方法
碳化硅(SiC)作为一种高性能半导体材料,因其出色的热稳定性、高硬度和高电子迁移率,在电力电子、微电子、光电子等领域得到了广泛应用。在SiC器件的制造过 ...
博扬智能 2025-1-6 15:19
电子称重传感器c3误差怎么办,减少c3误差的解决方案?
 C3级电子称重传感器以其高精度和可靠性,在各个领域得到了广泛应用。在实际使用过程中,传感器仍可能受到各种因素的影响而产生误差。通过采取有效的应对措施 ...
博扬智能 2025-1-6 11:17
电子压力传感器SP1和SP2代表什么,SP1和SP2的特点与应用
电子压力传感器SP1和SP2代表什么,SP1和SP2的特点与应用-藤仓自动化 电子压力传感器中的SP1和SP2,代表了传感器输出值状态变化的上限值。在传感器的工作过程中 ...
ONEZ 2025-1-6 11:07
白光干涉中,通过样品台的移动,实现机械相移技术
一、基本原理 在白光干涉仪中,光源发出的光经过扩束准直后,通过分光棱镜被分成两束相干光:一束作为参考光,经过固定的光路到达干涉仪的接收屏;另一束作为 ...
关闭 站长推荐上一条 /3 下一条