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德思特测试测量 2025-2-12 17:05: 矢量网络分析仪（VNA）基础解析与应用指南（二）; 上一篇文章介绍了使用VNA和其他RF设备相关应用的基础术语，概述组成VNA体系结构的硬件生态系统及对S参数的理解。本章将继续为您介绍微波射频简介、矢量网 ...; 197 1 0 1

VNA 矢量网络分析仪矢网网分

ONEZ 2025-2-11 15:15: SiC外延片的化学机械清洗方法; 引言碳化硅（SiC）作为一种高性能的半导体材料，因其卓越的物理和化学性质，在电力电子、微波器件、高温传感器等领域展现出巨大的应用潜力。然而，在SiC外延 ...; 256 0 0 0

碳化硅 SiC 半导体

锦正茂科技 2025-2-11 14:25: 原创什么是可调温探针台; 一、可调温探针台简介可调温探针台是一种能够精准控制温度的科研设备，广泛应用于各种材料、器件和电路的测试与研究中。通过调节探针台的温度，科研人员可以 ...; 165 0 0 0

探针台高低温探针台半导体测试芯片测试电路测试

锦正茂科技 2025-2-11 14:01: 探针台侧面构造及功能; 探针台的侧面通常由支撑结构、接口面板和调节装置等部分组成，这些构造共同确保探针台的稳定性和调节灵活性，以支持精密的探测 ...; 61 1 0 1

探针台半导体测试仪器仪表晶圆材料测量仪器

ONEZ 2025-2-11 09:52: 继经典迈克尔逊干涉后的零差式激光干涉技术的出现; 零差式激光干涉技术是在经典迈克尔逊干涉原理的基础上发展起来的一种高精度测量技术。以下是对这一技术的详细介绍：一、经典迈克尔逊干涉原理迈克尔逊干涉 ...; 73 0 0 0

白光干涉仪白光干涉 3d白光干涉仪

ONEZ 2025-2-10 14:17: 外差式激光干涉和零差式激光干涉的区别; 外差式激光干涉和零差式激光干涉是两种不同的激光干涉测量技术，它们在工作原理、特点和应用方面存在显著的差异。以下是对这两种技术的详细比较：一、工作原 ...; 111 0 0 0

白光干涉仪白光干涉 3d白光干涉仪

ONEZ 2025-2-10 09:46: 有效抑制SiC外延片掉落物缺陷生成的方法; 引言碳化硅（SiC）作为第三代半导体材料，因其出色的物理和化学特性，在功率电子、高频通信及高温环境等领域展现出巨大的应用潜力。然而，在SiC外延生长过程 ...; 134 0 0 0

碳化硅 SiC 半导体

ONEZ 2025-2-8 14:45: 白光干涉仪的膜厚测量模式原理; 白光干涉仪的膜厚测量模式原理主要基于光的干涉原理，通过测量反射光波的相位差或干涉条纹的变化来精确计算薄膜的厚度。以下是该原理的详细解释：一、基本原 ...; 77 0 0 0

白光干涉仪白光干涉 3d白光干涉仪

ONEZ 2025-2-8 10:07: 应力消除外延生长装置及外延生长方法; 引言在半导体材料领域，碳化硅（SiC）因其出色的物理和化学特性，如高硬度、高热导率、高击穿电场强度等，成为制造高功率、高频电子器件的理想材料。然而，在 ...; 74 0 0 0

碳化硅 SiC 半导体

ONEZ 2025-2-7 15:24: 白光干涉仪的光谱干涉模式原理; 白光干涉仪的光谱干涉模式原理主要基于光的干涉和光谱分析。以下是对该原理的详细解释：一、基本原理白光干涉仪利用干涉原理测量光程之差，从而测定有关物 ...; 63 0 0 0

白光干涉仪白光干涉 3d白光干涉仪

百佳泰测试实验室 2025-2-7 12:10: 原创如何解决笔记本电脑屏幕损坏的潜在风险?; 应用环境与客户需求随着科技的进步与消费者对笔记本电脑需求的增长，越来越多的品牌商将笔记本电脑的设计朝向更轻薄、更高效的方向发展。这样的设计 ...; 103 1 0 1

笔记本电脑屏幕损坏

百佳泰测试实验室 2025-2-7 12:07: 原创如何轻松应对测试工具PICS误填？Wi-Fi连线不稳？; Matter作为智能家庭生态圈的共同沟通协议，在智能家庭中扮演着解决不同品牌设备和生态系统之间的相互操作问题。透过Matter协议，使用者能更放心地选择不同品牌 ...; 97 0 0 0

WiFi PICS Matter

ONEZ 2025-2-7 10:27: 碳化硅外延晶片硅面贴膜后的清洗方法; 引言碳化硅（SiC）外延晶片因其卓越的物理和化学特性，在功率电子、高频通信、高温传感等领域具有广泛应用。在SiC外延晶片的制备过程中，硅面贴膜是一道关键 ...; 180 0 0 0

碳化硅 SiC 半导体

ONEZ 2025-2-6 14:28: 碳化硅晶片表面金属残留的清洗方法; 引言碳化硅（SiC）作为一种宽禁带半导体材料，因其出色的物理和化学性质，在电力电子、微波器件、高温传感器等领域具有广泛的应用前景。然而，在SiC晶片的制 ...; 458 0 0 0

碳化硅 SiC 半导体

ONEZ 2025-2-6 10:50: 白光干涉仪中的VSI和PSI以及VXI模式的区别; 白光干涉仪是一种高精度的光学测量仪器，它利用白光干涉原理来测量物体表面的形貌和高度等信息。在白光干涉仪中，垂直扫描干涉测量模式（VSI）、相移干涉测量模 ...; 62 0 0 0

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