测试测量
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百佳泰测试实验室 2025-1-3 10:39
原创 软硬件推波助澜,其效能对影像质量的考验又是什么呢?
影像质量应用于多个不同领域,无论是在娱乐、医疗或工业应用中,高质量的影像都是决策的关键基础。清晰的影像不仅能提升观看体验,还能保证关键细节的 ...
百佳泰测试实验室 2025-1-3 10:29
原创 新世代串流装置支持Matter,背后隐藏哪些设计挑战与潜在风险?
Matter加持:新世代串流装置如何改变智能家居体验? 随着现在智能家庭快速成长, 串流装置(Streaming Device,以下简称Streaming Device) 除了提供更 ...
ONEZ 2025-1-3 09:45
白光干涉的技术演变过程
一、初步应用阶段 在20世纪五六十年代,国内外相继出现了一些应用型白光干涉仪。这些干涉仪主要采用人工操作、读数、计算和测量评定某个参数,效率相对 ...
ONEZ 2025-1-2 17:12
检测碳化硅外延晶片表面痕量金属的方法
碳化硅(SiC)作为新一代半导体材料,因其出色的物理和化学性质,在电力电子、微波器件、高温传感器等领域展现出巨大的应用潜力。然而,SiC外延晶片在生产过程 ...
ONEZ 2025-1-2 11:25
白光干涉中的机械相移,对于反射镜移动的技术难点
一、反射镜移动精度要求高 白光干涉测量对光程差的改变非常敏感,即使是微小的移动也会导致显著的相位变化。因此,反射镜的移动必须非常精确,通常要达到纳米 ...
锦正茂科技 2025-1-2 11:15
半导体材料-封装材料
半导体材料作为半导体产业链上游的重要环节,在芯片的生产制造过程中起到关键性作用。根据芯片制造过程划分,半导体材料主要分为基体材料 ...
ONEZ 2024-12-31 15:45
8英寸单片高温碳化硅外延生长室结构
随着碳化硅(SiC)材料在电力电子、航空航天、新能源汽车等领域的广泛应用,高质量、大面积的SiC外延生长技术变得尤为重要。8英寸SiC晶圆作为当前及未来一段 ...
ONEZ 2024-12-31 10:52
白光干涉中的光学相移原理
一、基本原理 在白光干涉仪中,光源发出的光经过扩束准直后,通过分光棱镜被分成两束相干光:一束作为参考光,另一束作为待测光。这两束光在空间某点相遇时, ...
ONEZ 2024-12-30 15:56
沟槽结构碳化硅的外延填充方法
一、引言 沟槽结构碳化硅的外延填充方法是指通过在碳化硅衬底上形成的沟槽内填充高质量的外延层,以实现器件的电学和热学性能要求。这一过程中,不仅要保证 ...
Jeffreyzhang123 2024-12-30 14:54
原创 电子测试与测量技术:探索电子世界的 “密钥”
在神秘而复杂的电子世界里,电子测试与测量技术宛如一把神奇的密钥,帮助我们解锁其中的奥秘。它不仅仅是一门技术,更是连接理论与实践、推动电子产业不断向前 ...
ONEZ 2024-12-30 09:55
白光干涉仪中的相位产生机制
一、基于光程差的相位产生 基本原理: 当两束相干光波(如从同一光源发出的光波,经过不同路径后相遇)在空间某点相遇时,它们会产生干涉现象。 干涉条纹的 ...
锦正茂科技 2024-12-28 13:05
原创 使用半导体材料制作霍尔元件有什么优点
霍尔元件是一种基于霍尔效应的传感器,可以测量磁场强度和电流等物理量。霍尔效应是指,当电流通过一块导体时,如果该导体置于垂直于电流方向的磁场中,就会在 ...
锦正茂科技 2024-12-28 11:39
原创 半导体材料的霍尔效应测试
半导体材料的霍尔效应是表征和分析半导体材料的重要手段,可根据霍尔系数的符号判断材料的导电类型。霍尔效应本质上是运动的带电 ...
德思特测试测量 2024-12-27 15:59
矢量网络分析仪(VNA)基础解析与应用指南
矢量网络分析仪(VNA)是一种极其精密的仪器,能够对电气网络的阻抗进行表征,测量结果可提供幅度和相位细节,从而深入了解其行为。被测设备(DUT)通常用于射 ...
ONEZ 2024-12-27 14:29
1um以下的光刻深度,凹槽深度和宽度测量
一、白光干涉仪测量原理 白光干涉仪利用白光干涉原理,通过测量反射光与参考光之间的光程差来精确获取待测表面的高度信息。其测量精度可达到纳米级别,非常适 ...
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