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用户30220
2009-11-25 15:19
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供应直流、交流差动位移传感器QSY9701系列
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类 别 ?xml:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" / QSY9701 、 9702 、 9703 ...
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用户1439292
2009-11-25 15:18
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Latch-up 闩锁效应
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* Latch-up 闩锁效应, 又称寄生PNPN效应或可控硅整流器 ( SCR, Silicon Controlled Rectifier ) 效应. 在整体硅的CMOS 管下, 不同极性搀杂的区域间都会构成P-N ...
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用户30220
2009-11-25 15:16
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供应拉绳位移传感器QSY9603系列
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内装传感器类别 ?xml:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" / 工作电压 输出信号 ...
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用户30220
2009-11-25 15:14
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供应高精度S型传感器QSY8401系列
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额定载荷（ t ） ?xml:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" / H L1 L2 M ...
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用户30220
2009-11-25 15:08
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供应野外全自动地质状态监测系统
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一、系统介绍 1 、概述 全自动地质状态监测系统，是我公司针对野外无市电和长期无人值守的低温地质状态监测而开发的智能地温监测系统。本系统完全采 ...
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用户30220
2009-11-25 14:47
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供应钢弦频率指示仪QSY7103型
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QSY7103 型钢弦频率指示仪用以测量各类钢弦式仪器的输出信号，并可存储所测数据和将所存数据传输给计算机。 技术参数： 激 ...
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用户30220
2009-11-25 14:40
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供应无纸记录仪QSY7502
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QSY7502 系列液晶显示集成记录仪，具有全切换万能输入：热电偶、热电阻、标准电压和标准电流等信号。输出控制方式： QSY7502- Ｒ系列无纸记录仪为位式 ...
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用户1439292
2009-11-25 14:36
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FEI DualBeam 820. FIB/SEM（离子束/电子束）双束机台
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展芯芯片分析实验室 FIB性能参数 型号：FEI DualBeam 820. FIB/SEM（离子束/电子束）双束机台 大陆地区第一台投入商业服务的Dual-B ...
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用户1439292
2009-11-25 14:34
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SEM 扫描电镜/EDX能量弥散X光仪应用
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SEM 扫描电镜 / EDX能量弥散X光仪应用 * 材料结构分析/缺陷观察 * 元素组成常规微区分析 * 精确测量元器件尺寸 ...
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用户1439292
2009-11-25 14:32
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EMMI微光显微镜
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* EMMI微光显微镜是一种效率极高的失效分错析工具, 提供高灵敏度非破坏性的故障定位方式，可侦测和定位非常微弱的发光（可见光及近红外光）, 由此捕捉各种元件 ...
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用户1439292
2009-11-25 14:31
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OBIRCH 原理
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OBIRCH 原理： 用激光束在器件表面扫描，激光束的部分能量转化为热量。如果互连线中存在缺陷或者空洞，这些区域附近的热量传导不同于其他 ...
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用户1439292
2009-11-25 14:30
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LC液晶热点侦测
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利用液晶感测到IC漏电处分子排列重组,在显微镜下呈现出不同于其它区域的斑状影像, 找寻在实际分析中困扰设计人员的漏电区域（超过10mA之故障点）。LC可侦测因E ...
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用户1439292
2009-11-25 14:28
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芯片化学处理
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类 别 项 目 名 称 注 释 单 位 层次去除 去层—passivation钝化层 SIO2、SI3N4 层 ...
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用户1439292
2009-11-25 14:26
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Decap 开封
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开封, 即开盖/开帽, 指去除ic封胶, 同时保持芯片功能的完整无损, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受损伤, 为下一步芯片失效分析 ...
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用户1439292
2009-11-25 14:24
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取晶拍照评估
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取晶： 以化学腐蚀的方法将晶粒（die）从封装中取出，以利下一步拍照评估，层次去除或其他分析的进行。 拍照评估： 取晶后将晶粒置于显微镜下 ...
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