深圳市易捷测试技术有限公司，品牌：GBITEST。 致力于为用户提供精密的半导体晶圆级在片测试探针台系统和射频微波器件测量系统，微组装封装工艺检测系统以、失效分析系统以及材料测试等系统集成方案。特别是我们提供的探针台在片系统，已被全球客户广泛地应用于I-V／C-V测试，脉冲I-V测试，RF/mmW测试，高压、大电流测试，MEMS、芯片光耦合，光电器件测量、射频校准、晶圆级失效分析、霍尔测试、CP测试等解决方案中。主要探针台产品包括：半自动探针台，真空探针台，太赫兹探针台，硅光探针台，高低温探针台，微光显微镜，超低温探针台，光电探针台，辐照探针台，射频探针台，全自动探针台，手动探针台等。

晶圆直流DC测试是很常见的测试需求，《半导体晶圆级探针台直流测试》是我们的一些经验总结和分享