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coyoo 2024-8-4 11:03
- 原创 SiPM的选型思考2
- 概述 与滨松技术工程师索取了S14161系列75um像素标准产品的手册，在研读该手册的时候对于其中给出的增益指标产生一点点疑惑，本文即对此疑惑以 ...
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电子知识打边炉 2024-8-3 23:25
- 原创 元器件第045篇 功率MOSFET 漏-源电压变化率 dV/dt （二）
- 在 元器件第044篇 中介绍了功率MOSFET的寄生电容模型。在漏-源之间有一个串联电容路径：Cgd和Cgs，它们组成一个分压电路。电容可以“导通”AC电 ...
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- 原创 二代SiPM测试板的能谱及2Dmap测试3
- 概述 使用单晶体基本探测了SiPM通道性能，得到各通道获取的能谱特性，接下来还是回到完整晶体模块的测试。为该SiPM器件专门定制了7x7的晶体模块 ...
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- 原创 元器件第044篇 功率MOSFET 寄生电容模型
- 寄生电容是元器件对外呈现的一种电容特性。寄生电容的大小和频率特性和器件内部结构密切相关，体现着器件的“内在个性”。毫不意外，功率MOSFET的 ...
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- 原创 原理设计第007篇 电容串联使用时的总容量和分压
- 虽然使用的机会不多，但是电容器确实可以串联使用。既可以用若干个相同规格的电容串联，也可以用不同规格的电容串联。 电容器串联 ...
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- 原创 元器件第043篇 功率MOSFET 漏-源电压变化率 dV/dt
- 功率MOSFET常常在关断大电流的瞬间烧掉。烧，是指因过电流热效应而失效。这个现象对应下图SOA曲线中的 #4 部分。 & ...
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- 原创 元器件第042篇 功率MOSFET 寄生二极管和寄生三极管模型
- 下图是一个垂直结构、平面型栅极、n沟道的功率MOSFET。源极在上，漏极在下，中间是为提高漏-源截止耐压而插入的外延层（epi），外延层采用n-掺杂 ...
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自做自受 2024-7-29 17:43
- 原创 AI浏览器，你接受不接受？
- 2024年7月29日星期一，下午 打开电脑，启动浏览器Microsoft Edge，自动跳出页面： 问你Cookie可选，接受？不接受？管理Cookie？ 怎么管？点击“管 ...
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AI
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- 原创 思考：iPhone中国出货量下降？
- 前两天，读报新闻《 iPhone跌出中国手机销量前五名 - FT中文网 》 苹果二季度在它的关键市场中国出货量下降，市场份额被华为和小米等中国本土制造 ...
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- 原创 思考：新疆构建产业？
- 读报见文《 新疆： 现代化产业 体系在改革中构建、近5000家定点医药机构开通 职工医保 门诊统筹结算 (qq.com) 》兵团零距离 2024年07月18日 08:10 新疆 ...
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- 原创 二代SiPM测试板的能谱及2Dmap测试2
- 概述 前期直接上LYSO晶体模块能谱测试结果不理想，为了找寻原因回测了PMT系统，并进行了对比。为了找到原因，将测试分解，本文将分解后的测试进 ...
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- 原创 测试技术第012篇 PCB导电阳极丝测试
- 导电阳极丝（CAF, Conductive Anodic Filament）是发生在PCB内部导体之间的电化学迁移（ECM, Electrochemical Migration）现象。 C ...
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- 原创 测试技术第011篇 PCB表面绝缘电阻检测
- PCB表面绝缘电阻（SIR, Surface Insulative Resistance）有IPC和Bellcore GR78-CORE两个主要标准。 IPC-TM-650 方法2.6.3.7 是针 ...
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- 原创 可靠性第013篇 PCBA的绝缘失效——电化学迁移
- 这篇分享对PCB电化学迁移（ECM, Electrochemical Migration）的学习。 ECM发生在导体之间，是一种需要PCB通电才能持续的电化学反 ...
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- 原创 可靠性第012篇 PCBA的绝缘失效——化学腐蚀/离子迁移
- 这篇分享对化学腐蚀/离子迁移的学习。 化学腐蚀的本质是氧化还原反应，即原电池。反应条件是： 1. 有可溶性电解 ...
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无线前沿新技术与测试技术峰会-线上直播 直播时间： 12月05日 09:30 -
首场直播发布： Keysight AP5000 系列新型高性价比模拟信号源 直播时间： 12月06日 10:00 -
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