用户1504801的文章-第2页-面包板社区

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用户1504801 2013-10-10 16:01: EMI测试那点事——高速数据引起的EMI问题（案例分析）; 时间：2011 年11 月17 日地点：西安某公司待测试设备：某电子设备电路板测试仪器：泰克MDO4104-6 + 近场探头 ...; 1307 15 2 17

测试电路控制射频电路板

用户1504801 2013-9-25 16:13: 你所了解和不了解的USB2.0、USB3.0结构与测试那些事; USB 2.0 历史通用串行总线已经被公认为连接个人电脑和其它外围设备的事实上的标准。USB 2.0于2000年问世，其速度较传统USB 1.1规范提高了4 ...; 1785 12 4 16

总线应用电源测试高速

用户1504801 2013-9-22 15:24: 那些年，我曾“追”过的示波器; 本文由网友 “zhige” 发布于 http://www.infineonic.org/songge/blog/12-11/288712_1bad3.html （原标题：【话说这台示波器】 …… 曾 ...; 2519 13 6 19

电信示波器测量模拟

用户1504801 2013-9-17 16:24: EMI测试那点事——利用MDO 测试高速数据引起的EMI问题（案例分析）; 时间：2012 年11 月16 日地点：华北电力大学待测试设备：某视频信号处理设备电路板测试仪器：泰克MDO4104-6 + BNC ...; 1234 9 1 10

案例射频测试电源

用户1504801 2013-9-11 16:18: EMI测试那点事——利用MDO 地线布局不合理引起的EMI问题（案例分析）; 时间：2012 年11 月16 日地点：华北电力大学待测试设备：某电子设备电路板(与案例三为同一个设备) 测试仪器：泰克MDO4 ...; 1107 9 2 11

示波器电路板电源测试案例

用户1504801 2013-9-3 14:54: EMI测试那点事——利用MDO 测试开关电源引起的EMI问题（案例分析）; 时间：2012 年11 月16 日地点：华北电力大学待测试设备：某电子设备电路板测试仪器：泰克MDO4104-6 + BNC 电缆面临的 ...; 1251 9 1 10

测试电源示波器频谱仪电路

用户1504801 2013-8-27 17:43: EMI测试那点事——利用MDO 诊断无线POS 机EMI 问题（案例分析）; 时间：2013 年3 月17 日地点：深圳某公司待测试设备：某正在研发阶段无线POS 机测试仪器：泰克MDO4104-6 + 近场探头 ...; 891 10 0 10

测试电路无线电路板设计

用户1504801 2013-8-26 15:31: EMI测试那点事——利用MDO诊断风扇EMI超标问题（案例分析）; 时间：2012 年11 月21 日地点：上海浦西某实验室待测试设备：某型号风扇测试仪器：泰克MDO4104-3 + 近场探头 ...; 1047 12 0 12

测试功能辐射射频案例

用户1504801 2013-8-19 16:57: EMI测试那点事; EMI 定义：电磁兼容(EMC) 包括电磁干扰(EMI) 和电磁抗扰度(EMS) 两部分。简而言之，EMI 是电子设备对外部电磁环境的干扰，EMS 是电 ...; 2064 13 3 16

电子设计认证测试频谱仪

用户1504801 2013-8-7 15:20: 您应该了解的高速串行数据下一代测试解决方案; 前两篇博文《干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析》（ http://forum.eet-cn.com/BLOG_ARTICLE_1 ...; 925 13 0 13

示波器测试测量泰克方案

用户1504801 2013-7-31 15:08: 主要的高速串行接口技术及测试解决方案; 前一篇博文《干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析》（链接 http://forum.eet-cn.com/BLOG_ARTICLE_ ...; 950 13 0 13

技术测试泰克方案示波器

用户1504801 2013-7-24 15:07: 干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析; 多年来，宽同步并行总线已成为数字设备之间进行数据交换的主要技术手段。通过并行移动多个比特，这些数据总线技术好像比串行（顺序）传输技 ...; 1578 18 1 19

总线技术测试传输设计

用户1504801 2013-7-16 14:09: 紧跟存储技术发展趋势，了解下一代DDR验证和调试技术; 作者：Chris Loberg 泰克高级技术市场经理随着JEDEC最近发布LPDDR3和DDR4规范，转向下一代内存技术的趋势在加速。首先是LP ...; 2860 18 1 19

示波器带宽测试测量

用户1504801 2013-7-9 10:30: 使用MATLAB和任意波形发生器创建高性能激励测试系统; 作者：Chris Loberg 泰克高级技术市场经理测试工程师面临的极具挑战性的任务之一，是为测试PCB原型或硅转生成激励信号，或 ...; 1135 12 1 13

测试应用 it

用户1504801 2013-7-3 10:13: 全面认识逻辑分析仪（下）; 分析和显示结果逻辑分析仪实时采集内存中存储的数据，可以用于各种显示和分析模式。一旦信息被存储在系统中，它可以以多种格式查看，从定时 ...; 1548 7 1 8

测量采集数字信号完整性总线

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