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CVCT反拖台架试验控制系统设计
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时间:2020.11.11
上传者:风雨欲来ds
发动机可变气门正时技术(VariableValveTiming,VVT)作为一种可以提高发动机效率、降低油耗的技术手段,受到了越来越多的重视。连续可变凸轮相位(Continue
连续可变凸轮相位
CompactRIO 2115
转速测量
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PID 23949
用于可编程逻辑控制器(PLC) 的16 位模拟混合输入和输出模块
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时间:2022.12.19
上传者:fzyiye
用于可编程逻辑控制器(PLC)的16位模拟混合输入和输出模块
用于
可编程
逻辑控制器
plc
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模拟
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输入
输出模块
8566B SPECTRUM ANALYZER
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时间:2020.03.25
上传者:wsu_w_hotmail.com
8566BSPECTRUMANALYZER……
传感
控制
检测
xUnit Test Patterns_ Refa
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toring Test Code
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时间:2023.04.27
上传者:EPTmachine
GerardMeszaros-xUnitTestPatterns_Refa
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toringTestCode-Addison-Wesley(2007).pdf
xUnit
test
patterns
Refactoring
test
code
PETra
c
er/Trainer ML User Manual
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PETra
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erML™PCIExpressMulti-LaneProto
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olAnalyzerPETrainerML™PCIExpressMulti-LaneExer
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iserUserManualPR
力科
pci
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付旺超-AMC20140509自动化测试测量技术自主创新进展及应用前瞻
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付旺超-AMC20140509自动化测试测量技术自主创新进展及应用前瞻自动化测试测量技术自主创新进展及应用前瞻付旺超技术市场经理北京航天测控技术有限公司1自动化测试测量技术主题2自主创新进展34应用前
测试测量
amc20140509
10.可编程自动化控制器(PAC)手册
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上传者:238112554_qq
可编程自动化控制器(PAC)手册NI!"#$%&PLC!!"#$%&PC!ni.
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hina/industrial!"#$%&NI!"#$%&PAC!NIPACLabVIEW!"#$%&'()*
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NIDays2010 专题演讲 专题五 Compa
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tRIO动手课程
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从编程基础到进阶应用——Compa
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tRIO开发技术讲座与动手课程演讲者:汤敏——NI中国技术市场工程师演讲者:陆佳伟——NI中国资深应用工程师……
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compactrio
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testing-149pages
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emc
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QA
UWBTra
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er User Manual
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UWBTra
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erUserManualLeCroyUWBTra
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er./Trainer.Ultra-WidebandProto
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olAnalyzerUserManualManualVersion3.1
力科
协议分析仪
sata
PCIe测试方法
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时间:2020.11.16
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PCIe3.0&4.0测试相关文档
pcie
测试方法
EMC电磁兼容案例
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时间:2023.06.08
上传者:oneME
EMC电磁兼容的一些典型案例解析,NO2是医疗行业的解析
emc
电磁兼容
案例
W-CDMA/UMTS 无线网络
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时间:2020.03.20
上传者:givh79_163.com
本技术简介向读者介绍了W-CDMA/UMTS无线网络,描述了空中接口,使得基站/NodeB维护人员能够有效地维护空中接口。我们首先回顾了W-CDMA系统的演进,然后描述了空中接口及主要RF和码域参数。
Tektronix
w-cdmaumts
LeCroy测试和测量产品指南
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上传者:二不过三
LeCroy测试和测量产品指南http://www.17.net.
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nLeCroy测试和测量产品指南网址:http://www.17.net.cn测试和测量产品指南www.le
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a8335电能质量分析仪资料(详细)
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n法国CA8335电能质量分析仪详细资料C.A8334C.A8335体验全新的CA8335电能质量分析仪高性能的保证●在电气设备的安装维护中,可测量所有的电
ca8335
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闪变
基于TEC的高精度温控系统设计
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时间:2019.05.27
上传者:royalark_912907664
在激光领域,很多器件需要高精度的温度控制,例如二极管激光器(LD)、激光晶体、倍频晶体等。针对这些温度敏感器件的控温需求,设计了由恒流源搭建的NTC热敏电阻测温电路、模拟PID电路、双向压控恒流源驱动
半导体制冷器
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恒流源
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PCIe 2.0/3.0验证、调试和一致性测试解决方案
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时间:2020.03.20
上传者:二不过三
PCIe2.0/3.0验证、调试和一致性测试解决方案PCIExpress3.0TestingApproa
c
hesforPHYandProto
c
olLayersnametitleAgendaIntrod
Tektronix
pcie
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