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集成电路测试仪使用说明书
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类别: 制造与封装
时间:2020-01-06
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资料介绍
http://www.5i17.com.cn集成电路测试仪的说明书 ICT-33C+集成电路测试仪说明书 http://www.17.net.cn 操 作 指 南 目录 一、操作指南 1.开箱验机 2.操作部件介绍 3.测试电压选择 4.基本操作 5.编程操作 6.缓冲区编辑 7.微机通讯操作 8.其它操作 9.查看软件版本编号 10.操作注意事项 11.运放测试使用说明 12.锁紧插座板功能介绍 二、产品介绍 1.工作原理 2.系统主要构成 3.主要参数 4.功能综述 5.适用范围 6.测试容量 7.软件升级 三、维护保养 四、售后服务 五、测试容量清单 重要提示: 1.本机使用 220V±15%、50HZ 交流电源。 2.当用本机对 EEPROM、串行 EEPROM、FLASH ROM、单片机片内 ROM 器件进行好 坏判别或写入时,将会改变被测器件内部的数据,因此对正在使用中的这类器件进行好 坏判别前,最好能先备份;而对这类器件进行数据显示或读入、 比较时则不会改变数据。 3.EEPROM、FLASHROM、串行 EEPROM、运算放大器、三端稳压器等器件不能进行 型号识别。 4.当按下“好坏判别”键时,若显示“1―2”或“OU--数字”或“VCC―数字”时,按要 求放好被测器件后,须再次按下“好坏判别”键。光耦合器件测试时会显示“1―2” ,请参 阅第 7 页的说明。 5.在进行各项测试之前,首先要确认测试电压与被测器件是否匹配,否则有可能损坏被测 器件。选择的原则是 9.0V 及 15V 测试电压仅 CMO……
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