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电子知识打边炉 2024-4-30 22:39
原创 测试技术第008篇 功率MOSFET栅极阈值电压测量方法和标准
Vgs-th 的测量方法据我所知有两种——D-G短路法,IEC方法。 两种方法测量结果不一样,IEC方法的测量结果会较低,但也 ...
lyyinhe_xi 2024-4-30 11:08
原创 【拆解】赛事无人机电池集中充电器
无人机赛事,电池电量充足是取得良好成绩的关键要素。今天拆解一款支持六块电池同时集中充电的无人机电池充电器。板上有六个电池充电插 ...
hai.qin_651820742 2024-4-29 15:32
原创 Verdin AM62 LVGL 移植
By Toradex胡珊逢 简介 LVGL 是一个免费、开源的图形库,能够在嵌入式设备如上使用 C/C++ 语言轻松绘制图形。由于这是一轻量级图形库,最初广泛被 MCU 处理 ...
自做自受 2024-4-28 16:00
原创 参观珠海国际海洋科技展
2024年4月27日星期六 头天手机看新闻,见到所在地有个展览:珠海国际海洋智能科技展览会 自然就想去参观,长知识,看人类在科技领域发展趋势。 ...
电子知识打边炉 2024-4-27 17:47
原创 测试技术第007篇 AEC的可靠性测试标准 AEC-Q100 AEC-Q101 AEC-Q200
汽车电子已覆盖了很多人的日常,从车载收音机到按摩座椅,从电喷发动机到纯电动汽车,在抛光的桃木装饰和轰鸣的发动机旁,汽车电子和人相伴相依 ...
电子知识打边炉 2024-4-26 23:54
原创 测试技术第006篇 JEDEC的可靠性测试标准 JESD22
JEDEC 是一个国际性半导体器件标准化组织。详细介绍另见 元器件第001篇 ECIA, JEDEC, JEITA, EDS 。 JESD22 是JEDE ...
电子知识打边炉 2024-4-25 22:46
原创 测试技术第005篇 EIAJ的可靠性测试标准 ED-4701 ED-4702
EIAJ 是日本电子元器件行业标准化组织。详细介绍另见 元器件第001篇 ECIA, JEDEC, JEITA, EDS 。 ED-4701是EIAJ发布并维护的 ...
hai.qin_651820742 2024-4-25 16:35
原创 基于 NXP iMX8MM 测试 Secure Boot 功能
By Toradex秦海 1).简介 嵌入式设备对于网络安全的要求越来越高,而Secure boot就是其中重要的一部分。NXP i.MX8MM/i.MX8MP处理器 ...
电子知识打边炉 2024-4-24 00:01
原创 基础理论第003篇 分子 化学键
前一篇说的是独立原子的结构,这一篇记录分子。 分子由2个及以上的原子组成,既可以是相同原子(元素单质),也可以是 ...
coyoo 2024-4-20 13:37
原创 QII17.0添加器件库
QII17.0添加器件库 概述 安装Quartus II的时候为了节省硬盘空间,有时候会有选择地只安装自己用的器件,所以当有新的项 ...
coyoo 2024-4-20 13:19
原创 在进行基于FPGA的TDC设计时对HIT路径进行管理
在进行基于FPGA的TDC设计时对HIT路径进行管理 概述 HIT用于描述TDC的输入,即TDC用于记录每次“撞击”的时间信息。 ...
coyoo 2024-4-20 11:36
原创 记录与ALTERA器件JTAG有关的一个问题
翻看之前博客发现很多年前发布过与JTAG有关的博文,具体如下: 第一个是与单JTAG链挂多个器件的事情: https://mbb.eet-china.com/blog/1010859-213144.html ...
电子知识打边炉 2024-4-20 11:17
原创 可靠性第010篇 一种功率MOSFET寿命预计方法
功率器件的使用寿命(MTTF,Mean Time to Fail)制约着执行器的整机寿命。功率MOSFET承受的电气应力、热应力甚至机械应力是普通电子器 ...
coyoo 2024-4-20 11:13
原创 基于FPGA的TDC设计中使用PLL来模拟HIT
基于FPGA的TDC设计中使用PLL来模拟HIT 概述 在进行基于FPGA的TDC设计时,为了测试方便,一般通过PLL来模拟外部“HIT ...
coyoo 2024-4-20 10:41
原创 基于Cyclone V GX FPGA的TDC设计及测试结果分析
基于Cyclone V GX FPGA的TDC设计及测试结果分析 概述 基于老工艺的FPGA的TDC已经经过验证测试,可以安全可靠的用于产品 ...
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